首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司（Verigy Ltd.）的V93000 SoC测试机台推出Port Scale射频（RF）测试解决方案。这套新的解决方案可提供经济、有效又可靠的射频量测能力，是测试新式的高集成度组件（内含射频、混合信号、数字、电源管理、以及嵌入式或堆叠式内存等电路），以及低集成度射频收发器所不可或缺的工具。惠瑞捷针对V93000 SoC测试系统开发Port Scale射频测试解决方案是为了解决无晶圆厂半导体设计公司、整合组件制造商、以及半导体委外封装及测试公司目前和未来的需求。

　　惠瑞捷半导体科技有限公司业务与服务支持副总裁Pascal Ronde表示：“为了生产今日新一代移动通讯用消费性电子产品中使用到的新式高整合度组件，我们的客户面临了极大的挑战。V93000机台的架构不仅可以让我们加入这项射频测试能力，而且还能达到非凡的速度，同时依然维持的测试成本。”

　　射频的应用已十分普遍，从移动电话到卫星导航设备、调频器（Tuner）和机顶盒（Set-top Box）等各式各样的无线装置和通讯应用都会用到射频组件。另外，支持WiMAX、WLAN、Bluetooth及UWB等标准的桌上型及笔记型计算机也会用到含有射频电路的组件。过去，射频组件都是一个个单独的零件，现在，将多个射频零件整合在单一颗IC中已越来越常见。同样地，诸如行动电话等装置的设计需符合多个地区采用的标准，如GSM/CDMA、CDMA2000、EDGE和EV-DO，因此，过去只要包含一组接收器的设计现在经常得包含多达四组或更多组射频收发器。当这些不同的射频通讯标准全部整合在单一个射频电路中时，会大幅提高测试的挑战性。惠瑞捷预先看到了这种新的测试需求，了解客户不论面对的是高整合度或低整合度的射频组件，都希望尽可能维持的测试成本（COT），因而着手开发出Port Scale射频测试解决方案。

可提供快速度的架构

　　Port Scale射频测试解决方案的设计采用固态半导体组件，因此所有的射频资源都集中在V93000的测试头中。不同于其它采用速度慢的外接设备的解决方案，Port Scale是以高速的固态半导体组件为基础所设计的射频测试解决方案，完全不会减损速度、性能或量测准确度。

　　这套解决方案可以配置12、24或48个射频测端口，只要配备了24个射频测试端口，即可提供真正四点同测（Quad-site）的能力，而其高效率的多点（Multi-site）并行测试能力也解决了高整合度组件需要更多测试端口的测试问题，具有的测试效率，可将测试成本降到。Port Scale射频测试解决方案具备的高性能、准确又稳定的量测能力、以及业界的噪声底线（低至-161 dBm/Hz）可满足越来越严苛的性能、良率及成本要求。

加快上市时间

　　Port Scale射频测试解决方案可提供完全整合的模拟和射频测试能力与测试流程，以及可逐步进行的调试工具，能缩短测试开发时间。惠瑞捷新增了快速又准确的“单键” 执行功能，可进行智能型校准，并且采用功能强大的Eclipse?软件环境，可以检视动作中的硬件运作情形，让使用者透过简单明了的图形，查看射频量测模块图，并可将射频测试设定输出为测试方法的样版。采用固态半导体组件的射频设计加上V93000独特的水冷式架构在大部分开发阶段的测试计划中，都不需要进行校准。