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基于CMOS平板探测器的X-Ray全自动盘料点数机应用

出处:先锋科技(香港)股份有限公司 发布于:2017-11-21 | 837 次阅读

X-RAY盘料点数机:

面向电子行业领域阻容类物料和IC类物料等的物料计数。

一、基于X-Ray的盘料点数机和传统点料机区别

X-RAY盘料点数机的操作软件功能丰富且简便易学,软件根据产品类型自动进行图像判断计数;同时可选择手动或自动将物料类型、计数结果、检测时间、扫描次数等数据保存到本机数据库;可提供数据查询功能;并提供手动保存产品图像等功能。

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传统的点料方法:

1.原理:

传统的盘装电子物料点数方法是将料盘上封装的物料一端拉出,连接到带有收料盘的装置上,经过不同方式的传感器,通过对封装物料相邻间差异的识别实现物料个体封装的识别和计数,从而实现物料点数工作。

2.局限性:

(1)此种方式点数周期长,若提高收料装置的牵引速度,可以一定程度上提高效率,但对物料包装的要求较高,以确保料带能够承受较大的拉力,物料的包装成本需要提高,所以由于牵引速度的限制,制约了点料速度的提高;

(2)若封装空间里没有物料,此种方法会出现误判,从而影响点数精确度。

X-Ray点料方法:

利用X光大角度透视的原理,得到盘料的X-Ray图像,通过软件分析,得到计数结果,相比传统的点料方式,大大的提高了工作效率,节约人工成本。

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原理示意图

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X-RAY盘料点数机重点构件:CMOS平板探测器

针对X-Ray点料机应用,先锋科技(香港)股份有限公司可以提供高灵敏度和高动态范围的CMOS平板探测器,满足您多方面的需求。

CMOS平板探测器,我们提供多种感应面积供选择,有12cmx7cm;15cmx12cm;23cmx7cm;23cmx15cm;29cmx23cm.最小像元尺寸75um。

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