薄膜电容的测量方法
出处:电子发烧友 发布于:2019-02-12 14:22:31
先可以采用万用表测试电容,方法就是使用电阻档。实践证明,利用数字万用表也可观察电容器的充电过程,这实际上是以离散的数字量反映充电电压的变化情况。设数字万用表的测量速率为n次/秒,则在观察电容器的充电过程中,每秒钟即可看到n个彼此独立且依次增大的读数。
接下来介绍的是使用数字万用表电阻档检测薄膜电容器的方法,对于未设置电容档的仪表很有实用价值。此方法适用于测量0.1μF~几千微法的大容量电容器。将数字万用表拨至合适的电阻档,红表笔和黑表笔分别接触被测电容器Cx的两极,这时显示值将从“000”开始逐渐增加,直至显示溢出符号“1”。若始终显示“000”,说明薄膜电容器内部短路;若始终显示溢出,则可能时薄膜电容器内部极间开路,也可能时所选择的电阻档不合适。
在选购薄膜的电容的时候我们不仅要知道电容参数,更重要的也要学会测量和了解电容是否有损坏的现象,这是我们使用电容中不能忽视的细节。我们制造安规电容,陶瓷电容,压敏电阻,薄膜电容,更多优质的电容器尽在JEC。以上资讯来自智旭电子公司研发部,更多资讯请大家移步至网站中获取。
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