使用电压比较器LM324组成的电平测试电路

出处：conwh 发布于：2007-11-05 00:00:00 | 7456 次阅读

如图所示为使用电压比较器 LM324组成的测试电路。其特点是便于检测阈值电平的调整，可测试DTL、TTL、CMOS等多种逻辑电平。由电压比较器的原理可知：当同相输入端(正端)电压高于反相输入端(负端)电压时，比较器输出高电平；反之，则输出低电平。RP为比较电压调整电位器，当U_IN高于设置电压时，7脚输出高电平，显示1，同时小数点dp发光；U_IN低于设置电压时，1脚输出高电平显示0，但小数点不亮；当检测到高、低变化的时钟脉冲时，若频率很低，可见0、1交替显示。频率较高时，0、1变化非常快，所以只见显示为0，同时小数点dp发光，这种“带点的零”即可表示检测的是时钟脉冲。

7次

上一篇：使用单时基电路NE555构成的电平测试电路

下一篇：使用TTL或非门接成反相器配用共阴极数码管构成的电平测试电路