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JTAG.NET测试系统；ATE自动测试平台 |
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| 作者：sixuntech 栏目：单片机 | |
详细需阅读本网站 JTAG.NET板级测试系统介绍 缩略语： JTAG Joint TEST Action GROUP BS Boundary Scan 边界扫描 BSDL Boundary Scan DESCRIPTION Language 边界扫描描述语言 BST Boundary Scan TEST 边界扫描测试 OBP On_Board PROGRAMMING 在板编程 ICP In_Circuit PROGRAMMING 在线编程 ISP In-System PROGRAMMING 系统编程 引言： 随着电路技术进入超大规模集成（VLSI）时代，VLSI电路的高度复杂性以及多层印制板、表面贴装（SMT）、圆片规模集成（WSI）和多芯片模块（MCM）技术在电路系统中的应用，都使得电路节点的物理可访问性正逐步削弱以至于消失，电路和系统的可测试性急剧下降，测试开销在电路和系统总开销中所占的比例不断上升，常规的测试方法正面临着日趋严重的困难。测试算法的研究和测试实践证明了一个基本的事实：要对一个不具有可测试性的电路进行测试实徒劳的，只要提供电路的可测试性，才能使电路的测试问题得到简化并最终解决。1985年，由IBM、AT&T、Texas Instruments、PHILIPS ELECTRONICS NV、SIEMENS、ALCATEL和ERICSSON等公司成立的JETAG（Joint European TEST Action GROUP）提出了边界扫描技术，它通过存在于元器件输入输出管脚与内核电路之间的BSC（边界扫描单元）对器件及外围电路进行测试，从而提高器件的可控性和可观察性。1986年由于其它地区的一些公司的加入，JETAG改名为JTAG。1988年JTAG提出了标准的边界扫描体系结构，名称叫Boundary-Scan Architecture Proposal，Version 2.0，最后目标是应用到芯片、印制板与完整系统上的一套完善的标准化技术。1990年IEEE正是承认了JTAG标准，经过补充和修改后，命名为IEEE1149.1-90。同年，又提出了BSDL（Boundary Scan DESCRIPTION Language，边界扫描描述语言），后来成为IEEE1149.1-93标准的一部分。IEEE1149.1标准大大推动了边界扫描技术的发展和广泛应用。 JTAG板级测试系统的主要应用 Ø 基础测试 基础测试是指扫描链路自测试，由于它是利用BS器件进入CAPTURE-IR状态时会自动装入CAPTURE信号而实现扫描链自测试的目的，所以又称为CAPTURE测试。 基础测试是进行JTAG其他任何测试加载任务之前首先进行的测试操作，以确保JTAG链能正常工作。 Ø 器件标志码IDCODE测试 IDCODE测试，也称为器件标志码测试，或器件型号测试，指令扫描送入IDCODE指令，然后通过数据扫描IDCODE寄存器中的IDCODE标志码，验证器件是否错装，器件的型号、版本号和生产厂商是否正确。 器件标志码存放在器件标准寄存器中，器件标志寄存器是包含在集成电路IC内部的一个可选寄存器，它由并行输入与串行输出的32位移位寄存器组成，而不需要并行输出锁存器。象Bybass寄存器一样，当器件标准寄存器在使用时，芯片IC）正常操作能继续进行。 Ø USERCODE测试 USERCODE测试，也称为用户代码测试，可编程器件提供一个32位的寄存器可以用来存放用户的任意信息。指令扫描送入USERCODE指令，然后通过数据扫描USERCODE寄存器中的标志代码，验证存放信息是否与用户信息一致。这些信息可以是软件的版本号、加密数据等。 |
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