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感觉会损伤MCU （IO口驱动电容负载） |
| 来源：21ic 作者：457878 栏目：技术交流 |
| 感觉会损伤MCU （IO口驱动电容负载） 不知是否多虑了？
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| 1楼： | >>参与讨论 |
| 作者： jewind 于 2006-4-29 21:35:00 发布：
需看情况! 首先,那个电容不是非接不可. 但以下情况必须接:1:电源引脚.2:对于有可能会有干扰的引脚. 104的电容一般不会对MCU造成损伤的 |
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| 2楼： | >>参与讨论 |
| 作者： maychang 于 2006-4-30 1:35:00 发布：
与单片机口线内部结构有关 以51单片机为例。51单片机口线内部有上拉电阻，允许输出短路到地但不允许短路到正电源，所以这样接不会损坏。但内部双向驱动(图腾柱输出)的单片机一般不允许输出短路，这样接在输出信号频率不高时可以用，频率太高则不行。 |
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| 3楼： | >>参与讨论 |
| 作者： iC921 于 2006-4-30 4:27:00 发布：
很精致的话题！！ 假若有损伤。都有哪些方面呢？ 速度、电源波动、瞬间过流、…… ----这种电容负载由于不象运放那样的反馈回路，因此，影响过程应简单一些 |
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| 4楼： | >>参与讨论 |
| 作者： xwj 于 2006-4-30 12:28:00 发布：
不会 这么小的电容，不用担心 |
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| 5楼： | >>参与讨论 |
| 作者： yewuyi 于 2006-4-30 12:56:00 发布：
问题不大 不放心可以串个小电阻 |
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| 6楼： | >>参与讨论 |
| 作者： 457878 于 2006-5-5 9:58:00 发布：
不是吧921，这些都属于"损伤"的范畴？ "速度、电源波动、瞬间过流..." 莫非"损伤"又是一门科学？ * - 本贴最后修改时间：2006-5-5 10:17:32 修改者：457878 |
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| 7楼： | >>参与讨论 |
| 作者： 457878 于 2006-5-5 10:08:00 发布：
主要是担心瞬间过电流 据说瞬间过电流对器件寿命有影响。 比如有一片文章说到：可控硅如果经常承受浪涌电流，寿命会很快缩短。 既然可控硅存在这个问题，那MCU是不是也存在这个问题呢？ |
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| 8楼： | >>参与讨论 |
| 作者： zhangwr 于 2006-5-5 10:52:00 发布：
答457878 CPU和可控硅可大不相同 可控硅的浪涌电流较大时，热量来不及很快传递会造成局部过热而损坏。 单片机不一定都是三极管导通上拉，即使是三极管，瞬间电流值也不一定超过极限。 |
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| 9楼： | >>参与讨论 |
| 作者： 457878 于 2006-5-5 11:15:00 发布：
To zhangwr: "可控硅的浪涌电流较大时，热量来不及很快传递会造成局部过热而损坏。" 同意这个事实。 但那是"损坏"，而不是"损伤"。如果有资料证明热量也会造成"损伤"，那 就可以考虑是它惹得祸。 通过实验，单片机可以正常工作，没有"损坏"，但能工作多久，我无法保证。1个月，2个月，1年，2年？... * - 本贴最后修改时间：2006-5-5 11:20:08 修改者：457878 |
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