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LPC935如果说用内部晶振，复位可靠性比外部高吗 |
| 来源：21ic 作者：zhejiangdz 栏目：MCU技术 |
| LPC935如果说用内部晶振，复位可靠性比外部高吗 关于LPC935如果说用内部晶振，复位可靠性比用外部晶振复位高吗,我是做一个充电器，主要用了A/D，PWM，以及时间控制应用，就教周功，顺便问一下 |
| 1楼： | >>参与讨论 |
| 作者： zlgmcu 于 2007-1-15 8:34:00 发布：
re 在 时间/波特率 上没有高精度要求的情况下 推荐使用内部RC * - 本贴最后修改时间：2007-1-15 8:35:08 修改者：zlgmcu |
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