|
美国半导体测试联盟（STC）开始制定名为“Semiconductor Test Interface eXtensions（STIX）”的新标准。在7月16日～20日于美国旧金山举办的半导体相关展会“SEMICON West 2007”上，STC在其展区全面介绍了STIX的制定过程。
在SEMICON举办前的6月下旬，STC发布了与STIX的发起相关的公文（英文发布资料，PDF）。此前，STC一直在制定被称为“OPENSTAR（Open Semiconductor Test Architecture）”的面向模块式LSI测试器的标准。
STC的主导会员企业——爱德万测试（Advantest）此前已投产了依据OPENSTAR标准的SoC测试器“T2000”系列，目前已向STC的另一主导会员企业——美国英特尔供应了上百台T2000。
STC于06年10月进行了可以说是STIX预告的发表。此次宣布将当时涉及的范围从LSI测试器一个领域扩大至所有测试工序。扩充其内容的是STIX。STIX的范围较广，不仅包括硬件，还涉及软件。
STIX的制定工作由多个工作小组（WG）负责。名为“STIL（测试设计语言）”、“Docking & Interface”、“Probe Card”及“University”的四个工作小组已开始工作。“User Level API”、“Instrument Abstraction Layer”、“Tooling Abstraction Layer”及“Asynchronous Test Interface”这四个工作小组正在筹备之中。将来，还计划成立“Data logging”、“Test Program Generation”及“ED Interface”三个工作小组。
STC表示，过去1年内已有11家企业、6名个人及15所大学成为STC会员。至此，会员数量已超过100个。其中，企业会员为46个。 |
