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NI 最新推出PCI示波器 提高测试速度和通道密度
新闻出处:中国仪器仪表信息网 发布时间: 2007年04月24日
     2007年4月,美国国家仪器有限公司最新发布了2款广受欢迎的高速高密度数字化仪/示波器模块的PCI版本,将NI高速PCI产品的速度进一步提高到2 GS/s,并降低了每通道的成本。

  NI PCI-5152通用数字化仪可将台式PC转成一台功能齐全的示波器,提供每通道2 GS/s的实时采样率,或在两个通道同时采集的情况下提供1 GS/s的实时采样率。对于重复信号,该模块具有一个等效时间采样(equivalent-time sampling, ETS)模式,来实现高达20 GS/s的采样率。该板卡的特性包括300 MHz带宽,50 Ω和1 MΩ软件可选的输入阻抗下100 mV 至10 V的量程。工程师们可以通过软件对PCI-5152数字化仪进行自定义,应用领域涉及半导体芯片特征表征、超声波非破坏性测试(ultrasonic nondestructive test,NDT)、光学相干X线断层摄影(optical coherence tomography,OCT)和质谱分析等。

  PCI-5105 8通道、60 MS/s、12位数据采集卡在增加系统通道密度的同时还可以降低测试成本。该设备可在多模块间实现皮秒级同步的精度,是线性和相控阵超声波NDT等构建高通道数系统的理想之选。

  The NI-SCOPE驱动软件可用于所有NI数字化仪模块,包括50多种内置的用于时域和频域应用的测量和分析函数。工程师们可以将这些全新的数字化仪与一系列NI硬件(包括其他数字化仪、信号发生器、高速数字I/O和多功能数据采集设备)相集成,来创建自定义的测量解决方案。PCI-5152 和PCI-5105数字化仪还可在众多NI软件平台上运行,包括NI LabVIEW、LabWindows™/CVI和TestStand,以及C++、C#和.NET等通用开发环境。

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