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HY27US08121M-TCB 相关资料
高密度NAND Flash存储器:符合大容量存储应用; NAND接口:×8总线宽度,多路复用地址/数据总线引脚兼容; 电源电压:3.3V设备VCC=2.7~3.61/; 存储器单元阵列:528字节×32页×4096块; 页面大小:(512+16备用的)字节; 时钟大小:(16K+512备用的)字节; 页面读/编程:随机存取:12μs(最大值),顺序存取:50ns(最小值),页编程时间: 200μs(典型值); 复制回编程模式:不受外界缓冲的快速页面复制; 高速缓存编程模式:改善编程吞吐量的内部高速缓存; 快速块擦除:块擦除时间:2ms(典型值); 硬件数据保护:在电源转换过程中编程/擦除被锁定;数据的完整性:100000次编程/擦除周期,lO年的数据保留时间;封装:48引脚的TSOP和WSOP封装,63引脚的FBGA封装;工作温度:0~70℃
引脚图:
HY27US08121M-TCB引脚图

