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下: 向量图如下 电力系统的容性设备在正常工作时会产生一定的泄露电流, 泄露电流中包含容性分量ic和阻性分量ir,容性分量对设备的安全运行不会产生危害,阻性分量产生有功功率,表现为设备发热,达到一定程度将危害设备的安全运行。ir的大小是由容性设备的介质损耗即tgδ决定的,因此动态地监测介质损耗的变化是保障电力系统安全运行的一项重要措施。 由于过零时差比较检测的原始数据和设备的实际介损值不成线性,可以尝试用线性化近似代替,线性近似算法依据以下原理: 用cpld器件epm7160构建24位计数器,以下vhdl代码从略,外部时钟选10m,最大计时间t=167.8ms,一个工频周期为20ms,有充足的余量保证在一个工频周期内完成采样而计数器不回零,这样可以减少mcu的软件开销,相位分辨率接近0.1`,完全可满足要求。一个完整的采样周期是这样的:ct信号经由负变正过零触发,此时的上升沿将时间捕捉,接着pt信号经由负变正过零触发,此时的上升沿将时间捕捉,然后停止计数器并发出中断请求信号,mcu读取时间值并计算时间差,连续采样50次,取平均值。 假定介损处于上图中n1点时的
这样的设计宏单元够用吗?我想用epm7160 (有160个宏单元)的cpld做一个移位寄存器,然后再做32x8bit寄存器缓冲区,不知道宏单元够不够用?大家说说看法。
熟悉quartus ii 的高手请进已经在时钟设定部分设置了某一信号与全局时钟之间相应的分频参数。如图:问题是,是否还需要在代码中将分频的过程写出来?是不是在这里设置好了,就能自动得到时钟分频后的信号?我试验过了,如果在程序中将分频那段去掉的话,综合的时候会警告,说输出没有被驱动,输出被拉到gnd或vcc。而且仿真时也的确没有输出波形。那么这个设置到底是干什么用的呢?用的是epm7160(cpld)
cpld很烫!(又遇到新问题)用altera的epm7160做了个接口电路。tqfp100脚封装。电源和vccio为5v。综合后的报告显示:total macrocells 121 / 160 (75%)total pins 66 / 84 (78%)共有21个输出脚,其中15个脚连接cmos器件输入,6个脚连接uln2003输入。实际应用中,5v电源实际输出值为5.2v左右。已经加了14×14×10的tqfp封装专用的散热片,但现在工作起来后,散热片还是烫得手都放不上去。估计有70度以上吧。但芯片工作一切正常。哪位高手能给指点一下,这种状态正常么?还是应该采取什么措施? * - 本贴最后修改时间:2006-7-17 13:35:21 修改者:hschina