当前位置:维库电子市场网>IC>irgp30b120kd-e 更新时间:2024-04-20 22:58:50

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  • “单正向”栅驱动IGBT简化驱动电路

    而设计的典型igbt电容曲线。cres曲线(及其他曲线)表明一个特性,电容一直保持在较高水平,直到v接近15v,然后才下降到较低值。如果减小或消除这种“高原”(plateau) 特性,c的实际值就可以进一步减小。 这种现象是由igbt内部的本征jfet引起的。如果jfet的影响可以最小化,c和c可随着vce的提高而很快下降。这可能减小实际的cres,即减小dv/dt感生开通对igbt的影响。 图3 需负偏置关断的典型igbt的寄生电容与v的关系。 irgp30b120kd-e是一个备较小c和经改良jfet的典型igbt。这是一个1200v,30a npt igbt。它是一个co-pack器件,与一个反并联超快软恢复二极管共同配置于to-247封装。 设计人员可减小多晶体栅极宽度,降低本征jfet的影响,和使用元胞设计几何图形,从而达到以上的目标。 对两种1200v npt igbt进行比较:一种是其他公司的需负偏置关断的器件,一种是ir公司的npt单正向栅驱动irgp30b120kd-e。测试结果表明其他公司的器件在源电阻为56Ω下驱动时

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IRGP30B120KD IRGBC30U IRGB4062DPBF IRGB15B60KD IRG4PF50WPBF IRG4PF50WDPBF IRG4PF50W IRG4PC50UD IRG4PC40W IRG4PC40UDPBF

IRGP50B60PD IRGP50B60PDPBF IRGPS40B120UDPBF IRIS4007 IRIS4011 IRIS4015 IRL2203S IRL2505 IRL3102 IRL3102S

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