IDC 谏早电子开发出的漏电检出机能IC「RT8H064C」 采用6PIN小型封装实行产品的小型化

出处:厂商供稿 发布于:2022-11-18 17:06:59

半导体生产商谏早电子(IDC)开发出漏电检查用IC「RT8H064C」。

RT8H064C为实现了使用6PIN小型封装SC-74作开发的漏电检查机能产品。
可使用在漏电断路器或漏电保护分接器等等。
本产品采用0.5波1发的计算方式, 可使用外置的电容作设定操作时间。
此外,产品具有锁存输出格式,即使只是检测到漏电,也能保持异常输出。
内部等价电路, 应用电路图

※□内所包括的部份为本产品的电路图。

时序图

※当VR端电压高于IN端电压时定义为负电压,低于IN端电压时定义为正电压。

①IN-VR 波形是连接在IN端子和VR端子之间的电阻器产生的电压波形。
由于本产品以负电压检测漏电,因此即使施加正电压也不会运行。
②当负电压超过VT ≈ 8.5mV时,连接到OD/SC引脚的电容开始充电,
当VT ≈ 8.5mV低于时,电容放电。
③当VT ≈ 8.5mV超过Ton时间时,OD/SC引脚的电位超过VSCon ≈ 1.1V,OS引脚输出高电平,确定检测到漏电。由于是锁存输出格式,所以继续保持高输出。此外,可以通过再次打开电源来释放闩锁。
Ton由OD/SC引脚的充电电流ITD1、阈值电压VSCon和连接电容C1决定。
*Ton计算公式:Ton=-C1×VSCon/ITD1
[示例:Typ値VSCon=1.1V,ITD=-21uA,C1=0.047uA时,Ton=2.46ms]

電力的特性表(Ta=25℃)

外形图(单位:mm)

谏早电子其他漏电检出用IC的比较

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