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      内容：SCAN TEST DEVICES

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    • 其它信息：
      符合IEEE标准1149.1-1990(JTAG)测试接入端口和边界扫描结构；在正常功能模式下，功能上等同于′F245和′ABT245；SCOPETM指令集：IEEE 1149.1-1990需要指令和可选的钳位器，采样输入/切换输出，输出二进制计数，识别装置；为了增加更大的灵活性，每个输入/输出端口有两个边界扫描单元；先进技术EPIC-IIBTM BiCMOS设计大大降低了功耗；24引脚SOIC封装
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