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ESD引起集成电路损坏原理模式及实例
口的“隔离放大器”，在测试和机器调试中常有失效，由于这种放大器是双极型二次集成电路，说明书上只有功能方块图，无具体线路图，所以使用者未采取任何防静电的措施。失效模式为输出端对地呈现低电阻或短路，经解剖分析，发现每只电路内部都有3只mos电容器，其中有一只就是直接跨接在解调器的输出与地之间。因此，该输出端很怕静电放电。由于使用者并不了解这一特殊情况，所以未采取防静电措施，结果esd损伤失效常有发生，经济损失很大。后来采取防静电措施后，输出对地短路的失效现象就消?d.某航天电子产品用肖特基ttl电路54ls10，在部件进行老练和测试后失效，失效模式为输入端漏电流增大。经分析表明，失效由esd或电浪涌损伤引起。解剖分析后发现芯片表面无任何电损伤痕迹，也无任何工艺缺陷，经过各项试验证实，输入漏电不是氧化层内的钠离子沾污，也不是芯片表面的潮气和可动电荷沾污所引起。经现场调查，失效的输入端恰好是该部件的输入端子，在测试和老练过程中该端子常与人体或设备的机壳相碰，且操作现场并未采取防esd措施，所以判断失效由esd 损伤引起。此外，输入端碰上有漏电的机壳也会引起类似失效。e.某星上用进口的军用ccd(电荷

ESD引起集成电路损坏原理模式及实例
放大器”，在测试和机器调试中常有失效，由于这种放大器是双极型二次集成电路，说明书上只有功能方块图，无具体线路图，所以使用者未采取任何防静电的措施。失效模式为输出端对地呈现低电阻或短路，经解剖分析，发现每只电路内部都有3只mos电容器，其中有一只就是直接跨接在解调器的输出与地之间。因此，该输出端很怕静电放电。由于使用者并不了解这一特殊情况，所以未采取防静电措施，结果esd损伤失效常有发生，经济损失很大。后来采取防静电措施后，输出对地短路的失效现象就消 d.某航天电子产品用肖特基ttl电路54ls10，在部件进行老练和测试后失效，失效模式为输入端漏电流增大。经分析表明，失效由esd或电浪涌损伤引起。解剖分析后发现芯片表面无任何电损伤痕迹，也无任何工艺缺陷，经过各项试验证实，输入漏电不是氧化层内的钠离子沾污，也不是芯片表面的潮气和可动电荷沾污所引起。经现场调查，失效的输入端恰好是该部件的输入端子，在测试和老练过程中该端子常与人体或设备的机壳相碰，且操作现场并未采取防esd措施，所以判断失效由esd损伤引起。此外，输入端碰上有漏电的机壳也会引起类似失效。 e.某星上用进口的军用ccd(电荷耦合器

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