当前位置:维库电子市场网>IC>m25p20 更新时间:2024-04-25 16:58:16

m25p20供应商优质现货

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m25p20中文资料

  • ST推出首款汽车用高可靠性串行闪存M25P10-A

    意法半导体(st)推出一个新一代串行闪存芯片:m25p10-a,m25p20,m25p40。新产品密度范围1到4 mbit,专门为可靠性要求极高的汽车应用而设计。 新的m25p10-a、m25p20和m25p40存储器芯片的密度分别为1mbit、2mbit和4mbit,这三款产品被公认为第一批耐用性和强度都符合汽车环境要求的串行闪存ic。这些产品采用st的经量产验证的先进制造技术,为汽车应用提供了一个高可靠性的解决方案。这些产品获得了汽车级产品质量证书,并通过了aec-q100标准认证。 此外,新产品还经过了st独有的高可靠性认证流程(hrcf)的测试,保证芯片能够工作在-40℃到+125℃的汽车温度范围,达到汽车的质量和可靠性要求。这种测试流程结合统计工具如sbl (统计箱极限)和pat(组件平均测试),能够筛选出晶圆和裸片上的早期故障和离群点,达到汽车的零ppm故障率的全可靠性目标。 因为能够在汽车工作温度范围内以最高25mhz的频率维持高速数据存取操作,新产品特别适用于高性能发动机管理、变速箱控制模块和安全应用设备以及车载系统,像仪表板、多媒体显示器和音响系统。选

  • ST针对汽车应用推出高可靠性串行闪存IC

    意法半导体(st)推出新一代串行闪存ic m25p10-a、m25p20和m25p40,产品密度范围1到4mbit,专门为高可靠性要求的汽车应用设计。 这三款产品据称为第一批耐用性和强度都符合汽车环境要求的串行闪存ic。这些产品采用st经量产验证的制造技术,获得了汽车级产品质量证书,并已通过了aec-q100标准认证,能够为汽车应用提供高可靠性的解决方案。 此外,新产品还经过了st独有的高可靠性认证流程(hrcf)的测试,保证芯片能够在-40℃到+125℃的汽车温度范围工作,达到汽车的质量和可靠性要求。这种测试流程结合统计工具如sbl(统计箱极限)和pat(组件平均测试),能够筛选出晶圆和裸片上的早期故障和离群点,达到汽车的零ppm故障率的全可靠性目标。 因为能够在汽车工作温度范围内以最高25mhz的频率维持高速数据存取操作,新产品特别适用于高性能发动机管理、变速箱控制模块和安全应用设备以及车载系统(如仪表板、多媒体显示器和音响系统等)。选择串行闪存产品可以节省应用的空间和成本,因为它们采用极小的封装和4线总线;由于只占用微控制器或asic上的几个i/o引脚,新产品进一步降低了成本。

  • ST推出新一代串行闪存芯片 符合汽车环境要求

    意法半导体日前推出一个新一代串行闪存芯片。新产品密度范围1到4mbit,专门为可靠性要求极高的汽车应用而设计。新的m25p10-a、m25p20和m25p40存储器芯片的密度分别为1mbit、2mbit和4mbit,这三款产品被公认为第一批耐用性和强度都符合汽车环境要求的串行闪存ic。这些产品采用st的经量产验证的先进制造技术,为汽车应用提供了一个高可靠性的解决方案。这些产品获得了汽车级产品质量证书,并通过了aec-q100标准认证。 此外,新产品还经过了st独有的高可靠性认证流程(hrcf)的测试,保证芯片能够工作在-40℃到+125℃的汽车温度范围,达到汽车的质量和可靠性要求。这种测试流程结合统计工具如sbl (统计箱极限)和pat(组件平均测试),能够筛选出晶圆和裸片上的早期故障和离群点,达到汽车的零ppm故障率的全可靠性目标。 因为能够在汽车工作温度范围内以最高25mhz的频率维持高速数据存取操作,新产品特别适用于高性能发动机管理、变速箱控制模块和安全应用设备以及车载系统,像仪表板、多媒体显示器和音响系统。选择一个串行闪存产品可以节省应用的空间和

  • M25P20

    M25P20引脚图2M位Flash存储器;页程序(高达256字节),在1.4ms(典型值);2.7~3.6V单电源电压;SPI总线兼容的串行接口;50MHz时钟率(最大值);页程序(多达256个字节)在1.5ms(典型值)时;扇区擦除(512K位)在1s(典型值);批量擦除(2M位)在3s(典型值);深掉电模式1μA(典型值)

m25p20替代型号

M25P16-VMF6P M25P16 M25P128 M25P10-A M25P05-A M25P05 M2560 M250 M24C64-WMN6TP M24C64-WMN6P

M25P32 M25P32-VMF6G M25P40 M25P40-VMN6 M25P40-VMN6TPB M25P64 M25P64-VMF6P M25P64-VMF6TP M25P80 M25P80-VMW6

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