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  • 基于IEEE1149.4的测试方法研究

    ftest)测试、intest测试等。限于篇幅,此处不再作具体讨论。3 实例分析3.1 简单互连测试结果因目前还没有符合dot4的器件成品,所以使用了dot4工作组用于混合信号边界扫描测试的专用实验芯片klic〔5〕。klic实际上是个mixed-signalscan i/o。测试对象demo板设计原理是在mixed-signal core电路的基础上插入边界扫描结构即klic,使其构成混合信号边界扫描cut。demo板扫描链中两个边界扫描器件之间直接的互连线有3条,分别从ic1的输出脚dbm、abm2、abm3连接到ic2的输入脚dbm、abm2、abm3。由klic的边界扫描内部结构可知,其在扫描链上的互连测试矢量排列如下(其中,“x”为无关量,“v”对应表1中的测试矢量栏,“r”对应响应数据栏):xvv xxxxxxxxxxxx xxxx xxx xxxvvxxvvxxxxxxxxxxxxxx与之相仿,扫描测试结果在扫描链上的表示为:xxr xxxxxxxxxxxx xxxx xxx xxxxxrxxxrxxxxxxxxxxxxx这里我们仿照walk-1、walk-0的全集测试矢量方法,

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