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  • 遥控器晶振寿命筛选电路设计

    ，而造成频率稳定性差的因素很多。晶振在使用和贮存过程中，随着时间的变化而出现老化现象，通过对成品的解剖和原材料、制造工艺的分析，应用扫描电子显微镜的观察，初步认为失效的晶振频率稳定性差是由使用的原材料不当、石英晶片表层清洁处理不良、表层污染、蒸发的银膜层附着性差因素造成的。 4 遥控器晶振寿命筛选电路的设计 为使晶振的寿命筛选电路更加贴切遥控器实际工作状态，我们采用xt并行谐振振荡电路，应用晶振的基频来设计。 4.1集成电路的选用 为使晶振的寿命筛选电路不要复杂化，可选用tc4069ub集成电路，tc4069ub集成电路是一个反相器，用它可以实现晶体振荡的筛选电路；tc4069ub内部原理如图2所示。 从图2中可以看出， tc4069ub集成电路内包含有6个反相器，在进行实验时仅选用一个反相器来实验，基本实验电路原理图见图3.图3中反相器用来实现晶体振荡电路所需的180°相移，而rf电阻则用来提供反馈信号给反相器的，rs1电阻用来提供偏压，从而使反相器tc4069ub工作在线性范围内。 4.2晶体驱动检查 当晶体被过分驱动会逐渐损耗，减小晶振的接触电镀

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