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SN74BCT8373ADW

更新时间:2025-06-12 19:28:37
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SN74BCT8373ADW外观图

SN74BCT8373ADW

Texas Instruments 逻辑 - 专用逻辑

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

  • 封装:24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）
SN74BCT8373ADW 规格参数
  • 标准包装
    25
  • 类别
    集成电路 (IC)
  • 家庭
    逻辑 - 专用逻辑
  • 系列
    74BCT
  • 逻辑类型
    扫描测试设备，带 D 型锁存器
  • 电源电压
    4.5 V ~ 5.5 V
  • 位数
    8
  • 工作温度
    0°C ~ 70°C
  • 安装类型
    表面贴装
  • 封装/外壳
    24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）
  • 供应商设备封装
    24-SOIC
  • 包装
    管件
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