闪速(flash)eeprom作为一种分立元件已经使用很多年了,它们在结构和运用等方面都与eeprom类似。闪速eeprom和eeprom之间的基本差异就在于其写入处理方面,闪速eeprom是基于热电子注人而不是隧道效应。“热”电子就是快速电子,它们由源极和漏极之间的高电位差来产生,其中一些“热”电子因受正的电荷控制栅的影响穿透隧道氧化层并存储在浮动栅上。由于这种效应使其写人时间减少到大约1011s,与普通eeprom所必须的3~10ms相比是一个很大进步。另外,其编程电压仅是12v,而eeprom是17v。第1个带有闪速eeprom和eeprom两种存储器的智能卡微控制器已经问世[atmel],参看图1所示。这些芯片在制造过程中就把引导装人程序写入了eeprom,然后,智能卡制造商可用来下载程序代码和数据。目前,闪速eeprom单元的数据存储时间至少有10年保存期,至少有100 000次的写人/擦除循环,以及具有“字节的典型的页面大小。 图1 带有闪速eeprom的at89sc168智能卡微控制器的照片。上排的功能单元 (从左到右)是逻辑模块、ram和cpu;下排(从左到右)包