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SN74BCT8373A
德州仪器成员SCOPETM系列的测试性产品；八进制测试集成电路；在正常功能模式下功能上等同于′F374和′BCT374；符合IEEE标准1149.1-1990(JTAG)测试接入端口和边界扫描结构；测试操作与测试接入端口(TAP)同步；在TMS引脚上，通过识别双电平电压(10V)执行可选测试复位信号，SCOPETM指令集：IEEE标准1149.1-990所要求的指令和可选的INTEST、CLAMP和HIGHZ，采样输入/切换输出； 24引脚SOIC封装