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基于微处理器的宽频带相位测量系统的设计与应用
对于低频相位测量，一般采用数字脉冲填充法对输入信号的相位进行测量都能实现。但是，要想满足一定的测量精度就要求微处理器的时钟频率足够高。同样，运用此方法对高频信号进行测量时，由于相位差相对较小，一般的微处理器时钟频率，已经无法满足高精度的计数要求，这样必然会影响相位测量的精度。所以，必须提高标准时钟的计数频率，才能满足测量要求。这样，一方面增加了设计本身的难度，另一方面也提高了选用元器件的要求。本系统首先采用频率变换法将高频输入信号转换成低频信号后，且保持原信号的相位不发生变化，再利用基于aduc7128 为控制核心的数字测相系统进行测量，从而完成了宽频带输入信号的相位测量。 1 差频变换原理的引入利用数学模型将被测信号和参考信号描写成如下形式：被测信号：参考信号：其中： a 为被测信号的幅值； b 为参考信号的幅值； f为被测信号的频率； f0 为参考信号的频率； θ 是被测信号的幅角。同时，将两个信号y1 和y2 送入混频器内进行混频操作相乘后，会得到信号y3。再将y3 送入低通滤波器进行滤波处理，滤除高频信号，剩下的低频信号数学表达
应用模拟微控制器简化数据采集系统研究
这是相对于其他芯片的优势。问：为什么aduc845ad转换在很长时间后特别是在断电开机后，数据才能达到稳定？答：aduc845中的adc是sigma-delta型的，所以一般需要大约3~4个采样周期达到稳定。问：模拟微控制器从哪些方面简化了数据采集系统设计？答：由于直接在芯片上集成了多路adc和dac，用户无论是系统成本还是设计复杂度上都得到了有效的降低。而ide环境中也提供了相应的adc或dac的配置功能（甚至仿真功能），可以让用户很直观地进行开发。问：最新的aduc7128和以前的aduc7026的arm内核有什么不同，增加了什么新技术或新的模块？答：aduc702x和aduc712x均具有业内标准arm7tdmi内核。存储器处于不同的位置，因此需要不同的连接程序脚本和启动文件。几个外设也不同，而且这些外设的寄存器定义也会有所不同。问：对线性采集可以用增益校正和偏移校正来完成，那么对 dac的电压设置中出现的误差如何校正？答：aduc8xx和aduc702x没有dac偏移寄存器。偏移问题的2种可能的解决方案如下： 1）有效补偿

ADuC7128
模拟输入/输出；多通道,12位IMSPS模数转换器：10个模数转换器通道，全差分和单端模式，0～VREF模拟输入范围；10位数模转换器：32位21MHz的直接数字频率合成器(DDS)，电流到电压(I/V)的转换，集成二阶低通滤波器(LPF)；DDS输入到数模转换器；100Ω线路驱动器；片上电压参考；片上温度传感器(±3℃)；电压比较器；微控制器：ARM7TDMI核心，16/32位RISC结构；JTAG端口支持代码下载和调试；41.78MHz锁相环8路可编程分频器；可选的片内振荡器；存储器：126KB闪存/EE存储器，8KB的静态随机存取存储器；内电路下载器，基于JTAG的调试；软件触发电路编程；片上外设：2倍UART,2倍I2C和SPI串行输入/输出；高达40个引脚的通用输入输出端口；5倍通用定时器；唤醒和看门狗定时器(WDT)；电源监控；16位脉冲宽度调制发生器；正交编码：可编程逻辑阵列(PLA)；功率：指定为3V操作；主动模式：11mA、5.22MHz；45mA、41.78MHz；温度范围：40～＋125℃

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