该芯片为带锂电池的eeprom，在失电的情况下，可保存数据十年。当需要对数据进行进一步分析、研究时，系统结构框图可通过串口将数据存储器中的数据传输给系统微机，使得测试仪更方便实用。该系统的结构框图见图2。 3．1 信号发生电路具有一个标准的扫频信号是幅频特性测试仪实现准确测试的关键。所以，扫动的正弦信号采用频率合成的方式产生，其频率的稳定度可达到10－8，并且容易实现自动扫频功能。其硬件电路的组成见图3。首先采用cd4060芯片及晶振产生一个基准频率fi（fi＝128hz），作为二进制加计数器hc4520的计数脉冲，hc4520的输出作为2764的地址信号，由2764数据输出端输出已存储的数据。这样，每经过128hz就从2764的数据端输出一个由128点组成的、频率为1hz的数字正弦波。再经过dac0832芯片数／模转换后得到一个波形完美、频率稳定的模拟正弦波。当fi经过集成锁相环cd4046及可编程分频器8253组成的电路倍频后，就会得到fo（fo＝n×fi），n为分频系数。当fo的频率超过1mhz时，应换用74hc4046高速锁相环，最终得到一系列连续可变的模拟正弦波，即扫频信号。为了适合对
的eeprom，在失电的情况下，可保存数据十年。当需要对数据进行进一步分析、研究时，系统结构框图可通过串口将数据存储器中的数据传输给系统微机，使得测试仪更方便实用。该系统的结构框图见图2。 3．1 信号发生电路 具有一个标准的扫频信号是幅频特性测试仪实现准确测试的关键。所以，扫动的正弦信号采用频率合成的方式产生，其频率的稳定度可达到10－8，并且容易实现自动扫频功能。其硬件电路的组成见图3。 首先采用cd4060芯片及晶振产生一个基准频率fi（fi＝128hz），作为二进制加计数器hc4520的计数脉冲，hc4520的输出作为2764的地址信号，由2764数据输出端输出已存储的数据。这样，每经过128hz就从2764的数据端输出一个由128点组成的、频率为1hz的数字正弦波。再经过dac0832芯片数／模转换后得到一个波形完美、频率稳定的模拟正弦波。当fi经过集成锁相环cd4046及可编程分频器8253组成的电路倍频后，就会得到fo（fo＝n×fi），n为分频系数。当fo的频率超过1mhz时，应换用74hc4046高速锁相环，最终得到一系列连续可变的模拟正弦波，即扫频信号。为了适合对
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