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采用嵌入式测试器实现SoC中存储子系统的良品率设计
设计中存储器密度的增加，一个设计中就有几百个存储器实例，让一个star处理器来驱动所有存储器的测试和修复是不切实际的，因此，需要一个具有多star处理器的先进嵌入式ip解决方案来支持调试、诊断和现场修复。每一个star存储器系统由一个star处理器、一定容量的存储器和一个熔丝盒组成。当前典型的设计需要采用多star存储器系统实例。多star存储器系统实例如图3所示，需要彼此之间互连并连接到ieee 1149.1 jtag接口，以便外部测试设备在诊断和调试过程中访问芯片。每一个star处理器上的p1500端口采用ieee提出的ip到ip互连协议将多star存储器系统实例彼此之间连接起来。然而，这些p1500端口也要连接到芯片的jtag接口。为了使连接过程自动完成，一个称为jpc编译器的jtag到p1500转换器的设计已完成。掌握了每一个star存储器系统实例的情况，jpc编译器就可以生成逻辑把所有p1500端口与外部jtag接口互连起来。就本质而言，jpc逻辑起到芯片级ip基础架构“集线器”的作用，图3所示为具有两个star存储器系统实例的复合ip(功能和iip的混合)。先进技术的存储器缺陷分布
基于IP核的芯片级测试结构研究
访问机制（tam）和wrapper进行了详细的论述，分析了系统级芯片的测试结构及其优化。 1 引言片上系统已经发展成为当今的一种主流技术。为了有效地利用设计资源，加快上市时间，这种基于核的设计将ic设计界分成核供应商与系统集成商，系统集成商通过购买不同厂商的ip，直接加以整合复用来降低设计与制造成本。但这种设计给测试带来了新的特点与挑战：①由于各个ip核的测试开发是由不同的ip厂商提供的，因此需要用于传递核测试信息的测试语言以及用于测试访问的核测试环结构的标准制定（ieeep1500标准）；②由于核是深深地嵌入到系统中的，而测试是在soc的管脚进行的，因此需要一个从核的端口到芯片i/o的测试通道，这也是soc测试结构研究的焦点；③soc级测试优化问题。 2 板级测试与芯片级测试在传统的板级测试中，一般ic都已由其厂商测试过，因此系统集成商主要进行的是互连测试。其中最有效的方法之一就是边界扫描测试，即ieee1149.1。为了解决板级的互连测试，边界扫描测试需要加额外的逻辑电路。它的每个边界扫描单元是加在引脚处的移位寄存器。把所有数字边界扫描单元串接起来就构成了一个可以串行

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