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吉时利仪器提升S530系统四大性能
吉时利仪器公司日前宣布半导体行业最经济有效的全自动化生产参数测试方案——s530参数测试系统产品线在几个方面的性能提升。这些性能提升包括增加了吉时利新的高吞吐量开关主机用于高完整性的信号切换，探针卡上的完全开尔文测量提高低阻值准确度、新的硬件保护模块防止高灵敏度系统仪器受高电压影响，以及齐全的“探测”系统规范和诊断工具。 s530系统专门针对必须适应各种产品组合或者在宽应用灵活性和快速开发测试方案非常关键的生产参数测试环境进行了优化。s530测试仪采用成熟的源-测量技术和高保真度信号通路确保业界领先的测量准确度和可重复性。选择两种功能强大的参数测试配置提供两种不同配置的s530系统：低电流配置用于特性测量，例如亚阈值漏电、栅极漏电等；高电压配置用于gan、sic和si ldmos功率器件所需的较困难的故障和漏电测试。s530低电流系统(2~8 smu通道)提供亚皮安测量分辨率和低电流防护一直到探针引脚。s530高压系统(3~7 smu通道)带有源-测量单元(smu)，能输出1,000v @ 20ma(20w最大值)。在合理配置下，s530系统能实现过程控制监控、过程可
吉时利开关主机增强半导体测试应用的系统产能
的半导体测试应用进行了优化。这些开关主机大大提高了命令到连接的速度，可以实现更快的测试序列和更高的总体系统产能。同样重要的是，这些新型主机支持吉时利7174a型“云阵（air matrix）”8x12高速、低漏流矩阵卡，这是第一款能够在所有通路上实现低于100fa偏移电流的标准开关。707b和708b还支持其它三种常用的吉时利矩阵卡。707b和708b非常适合于包含下列仪器的测试系统配置：例如吉时利2600a系列数字源表、4200-scs半导体特征分析系统，以及诸如s500 acs集成测试系统和s530半导体参数测试系统之类的全自动测试仪。要想了解有关这些高性能主机的更多信息，请点击此处 http://keithley.acrobat.com/p54168155/查看吉时利的在线产品浏览。 707b和708b在设计上集成了多种独特功能，能够帮助广大半导体厂商实现更快、更灵活和更高效费比的测试。 ·新的数字控制平台大大提高了命令到连接的速度，具有更高的测试产能。即使是在gpib通信模式下，707b也能够在不改变任何代码的情况下将产能提高多达40%。 ·经过升级的面板界面简
吉时利升级开关主机增强半导体测试系统
环境下的半导体测试应用进行了优化。这些开关主机大大提高了命令到连接的速度，可以实现更快的测试序列和更高的总体系统产能。这些新型主机支持吉时利7174a型“云阵（air matrix）”8x12高速、低漏流矩阵卡，这是第一款能够在所有通路上实现低于100fa偏移电流的标准开关。707b和708b还支持其它三种常用的吉时利矩阵卡。707b和708b非常适合于包含下列仪器的测试系统配置：例如吉时利2600a系列数字源表、4200-scs半导体特征分析系统，以及诸如s500 acs集成测试系统和s530半导体参数测试系统之类的全自动测试仪。707b和708b在设计上集成了多种独特功能，能够帮助广大半导体厂商实现更快、更灵活和更高效费比的测试。 ·新的数字控制平台大大提高了命令到连接的速度，具有更高的测试产能。即使是在gpib通信模式下，707b也能够在不改变任何代码的情况下将产能提高多达40%。 ·经过升级的面板界面简化了配置管理和开关模式编程之类的操作。该面板还能够显示可编程的行列名称、交叉点状态（开、闭）和状态信息。这些主机还能够将几百种开关配置和通道码型存储在非易失性存储器中

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