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接收两种工作模式；它又是同步的，因为数据的发送和接收与时钟信号有关。时钟信号由st7536内部产生。st7536芯片还需要一些外部元件来完成所有操作：1个晶振，4个电阻和5个电容。1.st7536芯片引脚st7536芯片引脚如图2所示。 2.st7536芯片引脚说明 st7536芯片引脚说明如表1所列。表1引 脚名 称类 型说 明1rx/tx数字发送或接收模式选择输入2reset数字逻辑复位和电源关闭模式输入。低有效3test4数字测试输入，选择发送频段滤波器。高有效4test3数字测试输入，进入时钟恢复输入阶段。test1为高时选择输入5rxd数字同步接收数据输出6clr/t数字和功能模式相关的发送接收时钟输出7rxdem数字解调后的数据输出8dgnd电源数字地9dvdd电源数字正电压：5（1±0.05）v10test1数字测试输入，取消发送到接收模式的自动切换，使test3输入有效。高有效11test2数字测试输入，减小发送到接收模式自动切换的时间。高有效12txd数字发送数据输入13xtal2数字振荡器输出14xtal1数字振荡器输入15chs数字信道选
spice 仿真器提供了任何集成电路的仿真设计环境，如：网表生成，仿真控制、仿真结果观察分析、测试点、反标仿真结果等，这些流程可以适用于目前大多数eda 设计工具。 hspice 是事实上的spice 工业标准仿真软件，在业内应用最为广泛，它具有精度高、仿真功能强大等特点。没有提供方便直观的界面调入器件模型及电路连接，它使用纯文本格式来描述电路的连接关系及电路中的各个模型， 不适合初级用户。 在hspice 仿真主文件test.sp 对完整参考平面（test1）、gnd1 平面开槽（test3）、gnd2平面开槽（test4）、gnd1 和gnd2 平面均开槽（test5）四种模型定义同一的源。进行时域仿真比较眼图。主文件test.sp 的内容如下： *定义伪随机码发生器 vin1 in1+ com1 lfsr（-0.1 0.1 0 100p 100p 2.5g 1 [7,6] rout=0） vin2 com1 in1- lfsr（-0.1 0.1 0 100p 100p 2.5g 1 [7,6] rout=0） vcom1 com1 0 0 *调用模
一致则测试通过。如果不一致则必须返回原程序和行为级仿真，对时序进行仔细分析(因为这种情况大都是因为加入延迟后原来的时序发生改变)。 3 ip核在risc架构中的下载实例 3.1 risc处理器的选择与指令的测试 我们选用microchip公司生产的picl6c5x-xilinx spartan2系列中的xc2s150微处理器下载．因为其fpga芯片架构指令与8位risc兼容．能够很容易实现risc架构之指令集。 risc的测试激励文件是由汇编语言测试程序翻译而得到的．例如test3程序测试循环移位．test5测试逻辑操作指令、test8测试端口等。 testl程序是测试incf和的decf指令的．行为级初步测试中，“portb”输出为“01”，如3.3中所述，这并不能说明没有问题接着做行为级进一步测试 3.2 测试激励程序的加载步骤与验证 选择“project”莱单中的“news source”选项，在弹出的“new”对话框左侧选择文件类型为“test bench waveform”，填入文件名，单击下一步，在弹出的“select”对话框中选择关联的源为
esult=example4(para) x=[1 para 3]; y=[1 3 1]; plot(x,y); result=para*2; end.然后在命令窗口中输入： mcc -t -w libhg:example4 -t link:lib -h libmmfile.mlib libmwsglm.mlib example4则在工作目录下会生成example4 .dll、example4 .lib和example4 .h三个文件。 b.在vc中新建一个基于对话框的应用程序test3，然后添加一个按钮及按钮响应函数，函数内容见d步，再将生成的3个文件拷贝到test2工程目录下。 c.vc编译环境的设置如同3.2节c、d步； d.在按钮函数文件添加如下的头文件：#include "example4 .h" ，函数响应代码为： mxarray* para=mxcreatedoublescalar(2); mxarray* result; example4initialize(); result=mlfexample4(para); cstring str
。如果不一致则必须返回原程序和行为级仿真，对时序进行仔细分析(因为这种情况大都是因为加入延迟后原来的时序发生改变)。 3 ip核在risc架构中的下载实例 3.1 risc处理器的选择与指令的测试 我们选用microchip公司生产的picl6c5x-xilinx spartan2系列中的xc2s150微处理器下载．因为其fpga芯片架构指令与8位risc兼容．能够很容易实现risc架构之指令集。 risc的测试激励文件是由汇编语言测试程序翻译而得到的．例如test3程序测试循环移位．test5测试逻辑操作指令、test8测试端口等。 testl程序是测试incf和的decf指令的．行为级初步测试中，“portb”输出为“01”，如3.3中所述，这并不能说明没有问题接着做行为级进一步测试 3.2 测试激励程序的加载步骤与验证 选择“project”莱单中的“news source”选项，在弹出的“new”对话框左侧选择文件类型为“test bench waveform”，填入文件名，单击下一步，在弹出的“select”对话框中选择关联的源为
keil中汇编不能进行覆盖分析?通过src编译命令将.c文件转换成汇编文件后,再编译,发现keil不能进行覆盖分析,按理应该可以的啊?希望大侠们讨论讨论.//test3.c#include <reg51.h>unsigned char fun0(unsigned char f0, unsigned char f1, unsigned char f2, unsigned char f3){ unsigned char creturn0; creturn0 = f0+f1+f2+f3; return(creturn0);}unsigned char fun1(unsigned char g0, unsigned char g1, unsigned char g2, unsigned char g3){ unsigned char creturn1; creturn1 = g0+g1+g2+g3; return(creturn1);}void main(){ unsigned char d0, d1, d2, d3, d4; d4 = fun
h进行写操作。 list p=16f877a include "p16f877a.inc" org 0000h goto start org 0200hstart pagesel test1 call test1 ;pclath=0x00 pagesel test2 call test2 ;pclath=0x80 pagesel test3 call test3 ;pclath=0x18 pagesel $ ;pagesel 对pclath高2位进行改写，即pc goto $ ;的12、13位。 org 0300htest1 return ;return 后pc出栈，返回调用页但不会对 org 0900h ;pclath写操
3. 触摸屏(12位)和lcd工程(touch_lcd) 源代码4. nand_flash工程(nand_demo) 源代码5. test1工程(tyc100_test1) 源代码 包括： iis 音频输出, iic, key, led, lcd, rtc, adc, 触摸屏(8位/12位),数字电位器ds1804/s8330, 网卡以及mpu的一些基本功能的驱动和测试等6. test3工程(tyc100_test3) 源代码 包括： usb host（sl811）,usb slave(pdiusbd12), nand flash, flash,网卡, lcd, rtc以及adc的驱动和测试等 7. ide(hdd_ide) 包括：ide(hdd)工程文件 源代码 ide(ide)文件
绿色负极⑧ red3 扩展第3路串口双色二极管红色负极⑨ green4 扩展第4路串口双色二极管绿色负极⑩ red4 扩展第4路串口双色二极管红色负极注：所有发光二极管（包括网卡的2个指示灯）均不用限流电阻，限流电阻已焊接在主板上。6、jx3插件信号（8针）：① test1 第1路串口rs485总线状态检测端，当扩展成rs485总线结构时，该端接第1路串口的接收端rxd1；当扩展为rs232总线结构时，该端接+5v。② test2 第2路串口rs485总线状态检测端，用法同上。③ test3 第3路串口rs485总线状态检测端，用法同上。④ test4 第4路串口rs485总线状态检测端，用法同上。⑤ re/de1 第1路串口rs485总线收/发控制端，接75lbc184芯片的rd/de端。⑥ re/de2 第2路串口rs485总线收/发控制端，接75lbc184芯片的rd/de端。⑦ re/de3 第3路串口rs485总线收/发控制端，接75lbc184芯片的rd/de端。⑧ re/de4 第4路串口rs485总线收/发控制端，接75lbc184芯片的rd/de端。当扩展为r
_lcd) 源代码 4 、 nand_flash工程(nand_demo) 源代码 5 、 test1工程(ebd44b0_test1) 源代码 包括： iis 音频输出, iic, key, led, lcd, rtc, adc, 触摸屏(8位/12位), 数字电位器ds1804/s8330, 网卡以及mpu的一些基本功能的驱动和测试等 6 、 test3工程(ebd44b0_test3) 源代码 包括： usb host（sl811）, usb slave(pdiusbd12), nand flash, flash, 网卡, lcd, rtc以及 adc的驱动和测试等 7 、 ide(hdd_ide) ide(hdd)工程文件 源代码
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