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  • TB6612FNG在直流电机控制设计中的应用

    fng是东芝半导体公司生产的一款直流电机驱动器件,它具有大电流mosfet-h桥结构,双通道电路输出,可同时驱动2个电机。 tb6612fng每通道输出最高1.2 a的连续驱动电流,启动峰值电流达2a/3.2 a(连续脉冲/单脉冲);4种电机控制模式:正转/反转/制动/停止;pwm支持频率高达100 khz;待机状态;片内低压检测电路与热停机保护电路;工作温度:-20~85℃;ssop24小型贴片封装。 如图1所示,tb6612fng的主要引脚功能:ainl/ain2、bin1/bin2、pwma/pwmb为控制信号输入端;ao1/a02、b01/b02为2路电机控制输出端;stby为正常工作/待机状态控制引脚;vm(4.5~15 v)和vcc(2.7~5.5 v)分别为电机驱动电压输入和逻辑电平输入端。 tb6612fng是基于mosfet的h桥集成电路,其效率高于晶体管h桥驱动器。相比l293d每通道平均600 ma的驱动电流和1.2 a的脉冲峰值电流,它的输出负载能力提高了一倍。相比l298n的热耗性和外围二极管续流电路,它无需外加散热片,外围电路简单,只需外接电源

  • 简述半导体功能测试

    统的硬件进行测试,对每个测试项给出pass或fail的结果。pass指器件达到或者超越了其设计规格;fail则相反,器件没有达到设计要求,不能用于最终应用。测试程序还会将器件按照它们在测试中表现出的性能进行相应的分类,这个过程叫做“binning”,也称为“分bin”。举个例子,一个微处理器,如果可以在150mhz下正确执行指令,会被归为最好的一类,称之为“bin1”;而它的某个兄弟,只能在100mhz下做同样的事情,性能比不上它,但是也不是一无是处应该扔掉,还有可以应用的领域,则也许会被归为“bin2”,卖给只要求100mhz的客户。 程序还要有控制外围测试设备比如 handler 和 probe 的能力;还要搜集和提供摘要性质(或格式)的测试结果或数据,这些结果或数据提供有价值的信息给测试或生产工程师,用于良率(yield)分析和控制。 正确的测试方法 经常有人问道:“怎样正确地创建测试程序?”这个问题不好回答,因为对于什么是正确的或者说最好的测试方式,一直没有一个单一明了的界定,某种情形下正确的方式对另一种情况来说不见得最好。很多因素都在影响着测试行为的构建方式,下面我

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BIN1 BIC1422 BIC1421 BI3102 BI3101 BI2009 BHSR-02VS-1 BHR-03VS-1 BH7770KS BH76360FV

BIN5 BIS0001 BISS0001 BISS001 BIT3101 BIT3101A BIT3102 BIT3102A BIT3105 BIT3106

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