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简易光耦芯片测试电路
的多只发光二极管所加电压相同。图1 实用简易光耦芯片测试电路原理图 led1~led4 和r2~ r5 为对应光耦ic 芯片输出指示电路，调整rp 的阻值可改变ua 点电压，供被测光耦芯片内发光二极管的亮度调整，对应光耦芯片内部光敏晶体管的阻值发生变化导致led1~led4 亮度发生变化。rp 逐步减小，对应输出的led 逐步变亮，以判断其光耦对应通道的好坏。k1 和k2 为光耦芯片种类测试选择转换开关。二、测试电路的使用方法在活动插座icx 内放入tlp621 或tlp6214 等系列单路和四路光耦芯片锁紧，k 闭合，k1 和k2 不动，逐步调整rp 由大到小，此时a 点电压ua 可以从0.77~1.10v 变化。对应led1 或led1~led4 将由灭逐步到全亮。反之逐步调整rp 由小到大，对应led1或led1~led4 由全亮到灭，判定被测ic 芯片好。若led1 或led1~led4 不亮，对四通道光耦来说要的亮度可调有的led 不亮，视为ic 芯片损坏或部分损坏。在icx 内放入高速光耦4n35 等系列芯片锁紧，4n35 等系列芯片有二种测试方式

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