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源布线为了避免集成耳机放大器带来的问题，必须选择专用的耳机放大器ic。即使选用了不是专门为抑制rf噪音而设计的耳机放大器，对电路板的仔细布局也可获得良好的音质和低rf敏感度。输入端的引线最有可能影响 rf敏感度，这些引线应该布设在两个地层之间，以屏蔽外部rf电场。为了降低输入引线的天线效应，须尽可能缩短引线，使引线长度远小于敏感频率的1/4波长。放大器电源也是拾取rf噪音的一个途径，电路板设计通常采用旁路电容来降低电源噪音，但在rf频率处，这些电容的自感应降低了高频率波的效能。图1给出了1μf和10pf陶瓷电容的阻抗随频率变化的曲线。在音频范围内，1μf电容对地阻抗较低，具有较好的噪音抑制能力。当频率高于 1mhz时，其自感产生的阻抗高于容抗，使阻抗增大。如果在1μf电容处并联一只10pf电容，在800mhz至1900mhz gsm频率范围内，小电容会旁路掉1μf电容的自感。 图1. 放大器的电源线会拾取 rf信号。图中数据表明1μf电容的对地阻抗低于10pf的阻抗，提供更好的噪音抑制能力方案3 - 采用rf抑制放大器采用集成处理器/放大器或通过电路板布局能够在一定程度上
l2b-03l进行的480mbps数据传输模拟试验，在每根数据线和接地线之间产生4pf的额外ctyp 图7：用esd8v0l2b-03l进行的480mbps数据传输模拟试验，在每根数据线和接地线之间产生2pf的额外ctyp 将esd8v0l2b-03l esd二极管用于usb2.0数据链路不会影响数据完整性。对于图4和图5所描述的装置，得到的眼图符合usb2.0测试规范，还具有安全的余量，即使usb2.0驱动器和接收器的总容量(包括印刷电路板的影响)达到10pf。另一方面，市场上普遍使用的esd保护二极管(ctyp为10pf)可能会在这个usb测试装置中无法通过(图8)。 图8：用传统的10pf esd保护二极管进行的480mbps传输模拟试验 替代多层变阻器 多层变阻器不具备技术驱动应用中安全所需的高性能和高品质。使用变阻器的设计者必须处理性能下降的影响以及高的、不精确的钳位电压，这会导致ic损坏和电路故障的风险。与esd保护二极管相比，变阻器的另一个主要劣势是高泄漏电流，这在移动通信应用中是不能接受
一、固定电容器的检测 1、检测10pf以下的小电容 因10pf以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。测量时，可选用万用表r×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。若测出阻值(指针向右摆动)为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。 2、检测10pf～0.01μf固定电容器 万用表选用r×1k挡。两只三极管的β值均为100以上，且穿透电流要小。可选用3dg6 等型号硅三极管组成复合管。万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。由于复合三极管的放大作用，把被测电容的充放电过程予以放大，使万用表指针摆幅度加大，从而便于观察。 应注意的是：在测试操作时，特别是在测较小容量的电容时，要反复调换被测电容引脚接触a、b两点，才能明显地看到万用表指针的摆动。c对于001μf以上的固定电容，可用万用表的r×10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电，并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量。 3、电解电容器的检测 a因为电解电容的容量较一般固定电容大得多，所以，测量时，应针对不同容量
容采用的是数字标示法，一般有三位数，第一、二位数为有效的数字，第三位数为倍数，即表示后面要跟多少个0。例如：343表示34000pf，另外，如果第三位数为9，表示 10－1，而不是10的9次方，例如：479表示4.7pf。 更换电容时主要应注意电容的耐压值一般要求不低于原电容的耐压要求。在要求较严格的电路中，其容量一般不超过原容量的±20％即可。在要求不太严格的电路中，如旁路电路，一般要求不小于原电容的1/2且不大于原电容的2倍～6倍即可。 1固定电容器的检测 a检测10pf以下的小电容因10pf以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。测量时，可选用万用表r×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。若测出阻值(指针向右摆动)为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。 b检测10pf～0.01μf固定电容器是否有充电现象，进而判断其好坏。万用表选用r×1k挡。两只三极管的β值均为100以上，且穿透电流要些可选用3dg6等型号硅三极管组成复合管。万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电
5g的微机械加速度计）采用了单位增益放大电路。 图3是单位增益放大器的等效电路。图3中，cp为分布电容，cgs为前置级输入电容，rgs为输入电阻。当载波频率在放大器的通频带以内时，前置级输入电阻可忽略不计。 由图3可午，前置级有用信号输出为： （vs-vout）jω（c0+δc）+(-vs-vout)jω（c0-δc） =voutjω(cp+cgs)+vout/rgs ∵ rgs→∞ ∴vout=(2δc/2c0+cp+cgs)vs 分布电容cp约为10pf，输入电容cgs约为1～10pf，一般都大于传感器标称电容c0(1pf左右)。可以看出，它们的存在都极大地降低了电容检测灵敏度。要提高电路灵敏度，就必须消除cp、cgs的影响，通常采用的措施等电位屏蔽。 2.3 电荷放大器电路 电荷放大器电路如图4所示。它采用具有低输入阻抗的反相输入运算放大器。其中cp表示分布电容，cf为标准反馈电容，rf用来为放大器提供直流通道，保持电路正常工作。应选取rf，使时间常数rfcf远大于载波周期，以避免输出波形畸变。但rf过大为今后电路集成带来不便。可
接近为零，说明光敏电阻已烧穿损坏，不能再继续使用。b将一光源对准光敏电阻的透光窗口，此时万用表的指针应有较大幅度的摆动，阻值明显减小。此值越小说明光敏电阻性能越好。若此值很大甚至无穷大，表明光敏电阻内部开路损坏，也不能再继续使用。c将光敏电阻透光窗口对准入射光线，用小黑纸片在光敏电阻的遮光窗上部晃动，使其间断受光，此时万用表指针应随黑纸片的晃动而左右摆动。如果万用表指针始终停在某一位置不随纸片晃动而摆动，说明光敏电阻的光敏材料已经损坏。 二、电容器的检测方法与经验 1、固定电容器的检测 。a检测10pf以下的小电容因10pf以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。测量时，可选用万用表r×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。若测出阻值(指针向右摆动)为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。b检测10pf～001μf固定电容器是否有充电现象，进而判断其好坏。万用表选用r×1k挡。两只三极管的β值均为100以上，且穿透电流要小。可选用3dg6等型号硅三极管组成复合管。万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。由于复
两个可实现 rfi/emi 抑制的新型高可靠性组件系列，从而扩展了其瓷盘电容器范围。vy1 与 vy2 电容器符合 en132400/iec 60384 – 14 第二版 enec-vde、ul1414 及 csa 标准要求，并且可用于线分流及跨接线配置，以抑制共模及差模干扰。 根据产品规格，vy1 系列在 760vac 时可在 iec 60384-14.2 x1 模式下使用，在 500vac 时可在 y1 模式下使用（这两种情况的频率均为 50hz）。该系列电容器的可用值介于 10pf～4.7nf，它们在电压为 4000vac (50hz)、持续时间为 2s 的条件下进行了 100% 的测试。由于可经受 8kv 的峰值电压，vy1 电容器主要用于需要最高安全级别且要求持续使用的应用，例如在 ctv、lcd 及 crt 显示器，vcr 与 dvd 播放机，以及高频率镇流器中。 根据产品规格，vy2 系列在 440vac 时可在 x1 模式下使用，在 300vac 时可在 y2 模式下使用（这两种情况的频率均为 50hz）。该系列电容器的可用值介于 10pf～10n
万用表的指针应有较大幅度的摆动，阻值明显减些此值越小说明光敏电阻性能越好。若此值很大甚至无穷大，表明光敏电阻内部开路损坏，也不能再继续使用。 c将光敏电阻透光窗口对准入射光线，用小黑纸片在光敏电阻的遮光窗上部晃动，使其间断受光，此时万用表指针应随黑纸片的晃动而左右摆动。如果万用表指针始终停在某一位置不随纸片晃动而摆动，说明光敏电阻的光敏材料已经损坏。 二、电容器的检测方法与经验 1固定电容器的检测 a检测10pf以下的小电容因10pf以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。测量时，可选用万用表r×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。 若测出阻值(指针向右摆动)为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。 b检测10pf～001μf固定电容器是否有充电现象，进而判断其好坏。万用表选用r×1k挡。两只三极管的β值均为100以上，且穿透电流要些可选用3dg6等型号硅三极管组成复合管。万用表的红和黑表笔分别与复合
交流有效值的1.42倍。使用电解电容的时候，还要注意正负极不要接反。 不同电路应该选用不同种类的电容。揩振回路可以选用云母、高频陶瓷电容，隔直流可以选用纸介、涤纶、云母、电解、陶瓷等电容，滤波可以选用电解电容，旁路可以选用涤纶、纸介、陶瓷、电解等电容。 电容在装入电路前要检查它有没有短路、断路和漏电等现象，并且核对它的电容值。 安装的时候，要使电容的类别、容量、耐压等符号容易看到，以便核实。 二、电容器检测的一般方法 1.固定电容器的检测. a检测10pf以下的小电容。因10pf以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。测量时，可选用万用表r×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。若测出阻值(指针向右摆动)为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。 b检测10pf～001μf固定电容器是否有充电现象，进而判断其好坏。万用表选用r×1k挡。两只三极管的β值均为100以上，且穿透电流要小。可选用3dg6等型号硅三极管组成复合管。万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电
1固定电容器的检测 a检测10pf以下的小电容，因10pf以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。测量时，可选用万用表r×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。若测出阻值(指针向右摆动)为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。 b检测10pf～001μf固定电容器是否有充电现象，进而判断其好坏。万用表选用r×1k挡。两只三极管的β值均为100以上，且穿透电流要小。可选用3dg6等型号硅三极管组成复合管。万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。由于复合三极管的放大作用，把被测电容的充放电过程予以放大，使万用表指针摆幅度加大，从而便于观察。应注意的是：在测试操作时，特别是在测较小容量的电容时，要反复调换被测电容引脚接触a、b两点，才能明显地看到万用表指针的摆动。 c对于001μf以上的固定电容，可用万用表的r×10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电，并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量。 2电解电容器的检测 a
频率为20至80mhz，电路采用三次泛音晶体以及二极管开关和频率倍晶体管。 l1- ln系列每个晶体频率的谐振为10pf。 l4是所需的输出频率谐振为10pf。l3和l5的转数是l5的三分之一。 q1是2n918，bf115，hep709或同等作用的元件。二极管是切换类型，如bay67。 来源:ruanjuqingsi
ic3～ic6选四运算放大器lm324，ic9～ic10选用四二输人与非门cd4011，ic7、ic8、loll、ic12选用六反相器cd4069，ic13、ic14选用模拟1开关cd4066。vd1～vd8、t1、t2根据负载而定。kl采用dc12v小型继电器，单相稳压时k2最好选用522继电器，两组动断触点并用。c15～c22选0.olμf涤纶电容，v选8050，vd1～vd4选ln4004，vd5～vd15选用ln4148，r4～r11选1／8wim普通电阻，c6～c14不易选得太大，可在10pf以内选用。 来源:jusgheb
该电路由两个振荡器组成，这两个振荡器的工作频率都为465khz。其中一个使用稳压器，另外一个使用感应器（探察线圈l1）。振荡器被10pf的电容耦合。当两个振荡器非常靠近时会产生拍音，这种拍音可以用二极管来检测，并且供给耳机放大器以及22μf的电容。 来源:zhenglili
该四方4093的两个电门用来组成一个振荡器。rx可以来自5kω到10 mω的范围。cx来自10pf以上，其上限是由电容器的漏电情况决定的。频率大约是2.8rxcx(r：mω, c：mfd)。 来源:zhenglili
如图所示为由mc1496构成的乘法电路。该电路当选取rx=30kω，ry=62kω，i1=0.5ma，k=1/10时，输出电压vo为vo=vxvy/10,由于输出电流io通过反相放大器倒相，所以vx加在x-端，这是因为上式右端选取为正所决定的；如果右边选为负，则输入信号应加在x+端。为了防止寄生振荡，在vx和vy的输入端接有10pf和470ω组成的串联网络。 来源:university
电容器的检测方法与经验1、固定电检容器的测 a、检测10pf.html">10pf以下的小电容：因10pf.html">10pf以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。测量时，可选用万用表r×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。若测出阻值(指针向右摆动)为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。 b、检测10pf～001μf固定电容器是否有充电现象，进而判断其好坏。万用表选用r×1k挡。两只三极管的β值均为100以上，且穿透电流要些可选用3dg6等型号硅三极管组成复合管。万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。由于复合三极管的放大作用，把被测电容的充放电过程予以放大，使万用表指针摆幅度加大，从而便于观察。应注意的是：在测试操作时，特别是在测较小容量的电容时，要反复调换被测电容引脚接触a、b两点，才能明显地看到万用表指针的摆动。 c、对于001μf以上的固定电容，可用万用表的r×10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电，并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量。2、
电子元器件检测方法（二）二、电容器的检测方法与经验1固定电容器的检测a检测10pf.html">10pf以下的小电容因10pf.html">10pf以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。测量时，可选用万用表r×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。若测出阻值(指针向右摆动)为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。b检测10pf～001μf固定电容器是否有充电现象，进而判断其好坏。万用表选用r×1k挡。两只三极管的β值均为100以上，且穿透电流要些可选用3dg6等型号硅三极管组成复合管。万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。由于复合三极管的放大作用，把被测电容的充放电过程予以放大，使万用表指针摆幅度加大，从而便于观察。应注意的是：在测试操作时，特别是在测较小容量的电容时，要反复调换被测电容引脚接触a、b两点，才能明显地看到万用表指针的摆动。c对于001μf以上的固定电容，可用万用表的r×10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电，并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电
说明光敏电阻已烧穿损坏，不能再继续使用。b将一光源对准光敏电阻的透光窗口，此时万用表的指针应有较大幅度的摆动，阻值明显减些此值越小说明光敏电阻性能越好。若此值很大甚至无穷大，表明光敏电阻内部开路损坏，也不能再继续使用。c将光敏电阻透光窗口对准入射光线，用小黑纸片在光敏电阻的遮光窗上部晃动，使其间断受光，此时万用表指针应随黑纸片的晃动而左右摆动。如果万用表指针始终停在某一位置不随纸片晃动而摆动，说明光敏电阻的光敏材料已经损坏。二、电容器的检测方法与经验1固定电容器的检测a检测10pf.html">10pf以下的小电容因10pf.html">10pf以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。测量时，可选用万用表r×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。若测出阻值(指针向右摆动)为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。b检测10pf～001μf固定电容器是否有充电现象，进而判断其好坏。万用表选用r×1k挡。两只三极管的β值均为100以上，且穿透电流要些可选用3dg6等型号硅三极管组成复合管。万用表的红
pf-680pf, 测试频率为1mhz. b、hi-k type的电容量范围为100pf-0.047uf, 测试频率为1khz. c、s/c type的电容量范围为0.01uf-0.33uf.2. 电容值误差tolerance: 一般电解电容器的电容值误差范围为m 即 +/-20%, 塑料薄膜电容器为j即 +/-5%或k即 +/-10%, 或m即 +/-20%三种, 陶瓷电容器 a、t/c type为c即 +/-0.25pf (10pf以下时), 或d即 +/-0.5pf (10pf以下时), 或j或k四种. b、hi-k type 及s/c type为k或m或z即 +80/-20%三种. 3. 损失角即d值: 一般电解电容器因为内阻较大故d值较高, 其规格视电容值高低决定, 为0.1-0.24以下. 塑料薄膜电容器则d值较低, 视其材质决定为0.001-0.01以下. 陶瓷电容器视其材质决定, hi-k type 及s/c type为0.025以下. t/c type其规格以q值
电解电容器由于价格便宜、品种齐全而得到大量使用。漏电流和损耗较大，容量稳定性较差。钽、铌电解电容器的体积较小、性能较稳定。3、电容器的标称容量系列和允许偏差系列根据gb 2471，固定式电容器的标称容量系列和允许偏差系列采用e3、e6、e12、e24、e48、e96系列。exx系列的表格请参考“电阻概论”。下面介绍多层片式瓷介电容器的标称容量系列和允许误差系列。根据gb/t 9324，标称电容量应优先从e3、e6、e12和e24系列中选取。i类电容器优先标称电容量允许偏差优先系列 允许偏差cr≥10pf 字母代码 cr<10pf 字母代码e6 ±20% m ±2pf ge12 ±10% k ±1pf fe24 ±5%±2%±1% jgf ±0.5pf±0.25pf±0.1pf dcbii类电容器优先标称电容量允许偏差优先系列 允许偏差，% 字母代码e3和e6 -20/+80 z-20/+50 se6 ±20 me6和e12 ±10 k4、电容器的额定电压系列4.1根据gb 2472，电容器的额定工作电压应符合下表规定 单位：伏1.6 4 6.3 10 16 25 32* 40 50* 6
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