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s阈值电压漂移在电力电子的应用条件,即高电压(接近栅击穿电压)、大电流和高温(接近pn结临界温度150℃)时,是一种导致器件和电路失效的潜在参数,似乎仍需系统考察和修订老化条件。所以,将称作是一种可能隐藏的失效模式。 4、 igbt寿命期限内,有限次数短路脉冲冲击的累积损伤失效 在寿命期限内,igbt会遇到在短路、雪崩等恶劣条件下工作,它能承受短路脉冲冲击的次数是有限的,并和相关条件有关。 4.1非穿通型(npt)igbt的鲁棒性 npt—igbt的鲁棒性见图5,被测器件是sgw15n120。在540v 125℃时测试。x轴是耗散的能量。y轴是器件直至损坏的短路周期次数。 由图5可见,在给定条件下,器件有一个临界能量: ec=v·i·tsc=1.95j(焦耳) 式中,tsc是短路持续时间 当e>ec时,,第一次短路就使器件失效。 当e<ec时,大约要经历104次短路以上,器件会因周期性的能量累积退化使它失效。 当e=ec时,器件失效模式不明确。当能量等于或稍等于ec时,器件关断后,器件的拖尾电流,经过一段延迟时间td f ,将导致热击穿。这段延缓性失效时