NI发布11款全新基于PXI的RF开关模块
出处:neulgg 发布于:2008-05-29 09:54:32
美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)发布了11款新的RF开关,将50 和75 Ohm 应用的PXI 模块">RF开关模块的选择增多了一倍。这些模块包括4x1、4x1匹配、4x1双向、8x1双向多路复用器以及四重SPDT和双匹配SPDT通用配置。有了这些产品,工程师们可以基于性价比和改善信号完整性的考虑,自主选择优化他们的RF开关网络。6款新的2.5 GHz 75 ohm模块是NI为高频率视频应用(例如置顶盒测试等)推出的批产品。5款2.7 GHz 50 ohm模块是NI现有的10款RF开关系列的新产品,可用于在DC与26.5 GHz间的信号路由,并且可以为RF发生器(例如NI PXI-5671 2.7 GHz矢量信号发生器)或RF分析仪(例如NI PXI-5661 2.7 GHz矢量信号分析仪)扩展其通道数。
所有的11款模块均提供极低的插入损失(在特定带宽情况下小于2.1 dB)和电压驻波率(带宽小于1.75),以便将功率损耗、电压衰减和信号反射都降到。市场上其他的PXI RF开关一般具有3 dB的插入损失和在带宽频率下大于1.8的电压驻波率。这些新模块还提供继电器计数追踪,这是一种NI PXI模块提供的特性,让工程师们可以追踪硬件板上继电器的闭合,从而预测模块上每一个继电器的使用寿命,并避免意外的系统当机。
工程师们可以使用功能齐全的NI-SWITCH驱动软件编程所有这些开关模块,使得基本的继电器操作可以在通用开发环境中运行,如NI LabVIEW图形化开发环境、为ANSI C开发的LabWindows™/CVI和Microsoft Visual Basic/C++。如果需要其他的配置、编程和管理多通道数开关系统的需求,可以使用NI Switch Executive软件实现简单易用的智能开关管理和视觉路由环境。一旦工程师配置好开关网络,且对其进行了编程,他们就能基于NI TestStand完成发布任务。NI TestStand是一个专为简化自动化测试和验证系统而开发的简单易用的测试管理环境和框架。
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