一款单节晶体管性能测试电路
出处：实用电子制作 发布于：2014-03-12 09:11:42 | 3271 次阅读
本文介绍的是一款单节晶体管性能测试电路图。如下图所示，被测单结晶体管VBT（设：BT33）与R3、C2组成张弛振荡器。VBT在导通时，三极管VT1通过偏置电阻R2获得偏置电流（此时S1断开，S2闭合），发光二极管H1发光。
其中，10V电源通过R3经VD2向C2充电。电压表V可以测量出C2两端的电压会随着时间的推移在不断上升，E端电位达到VBT的峰值电压时，VBT的E~B1间便自动导通，电容C1上的电压经E~B1放电，使三极管VT1的发射结受反偏截止，H1熄灭。如果被测 单结晶体管VBT是好的，电容C1就会周而复始地充电放电，H1就会明暗交替地闪光。若是H1一直亮着，可将VBT的B1、B2脚调换检测（这样也便于正确区分出Bl、B2管脚），要不然则此单节晶体管是坏管。
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