SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

出处:蓝色魅力 发布于:2011-06-20 11:13:31

  1.范围

  本标准规定了半导体发光二极管芯片(以下简称芯片)的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试就去。

  2.规范性引用文件

  下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然后,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的版本。凡是不注日期的引用文件,其版本适合于本标准。

  GB/T 5698-2001  颜色术语

  GB/T 11499-2001  半导体分立器件文字符号

  GB/T 15651-1995 半导体器件  分立器件和集成电路  第5部分:光电子器件(IEC 60747-5:1993,IDT)

  SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

 

全文PDF:SJT 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法.rar

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