吉时利仪器公司(Keithley)，宣布为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法(fF)和纳法(nF)级电容。在4200-CVU的创新设计中采用了先进的高性能电路，有8项正在申请中。该设备具有直观的点击式配置界面，线缆连接简单，内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C-V测量结果。无论用户是否具有相关测量经验，都能使用该仪器实现级的C-V测量。

　　4200-CVU附带完整的测试库，极大提高了测量效率。如果与吉时利4200-LS-LC-12结合使用将实现更高测量效率。4200-LS-LC-12是带有电缆和适配器的专用开关矩阵卡，通过单针探测能实现高度集成的C-V/I-V测试。4200-PROBER-KIT为可选模块，使用该模块能轻松将4200-SCS与各种广泛使用的探头相连，终帮助用户如I-V测试一样轻松配置和执行功能全面的C-V测试。

　　吉时利公司4200-SCS支持利用各种第三方测试设备进行C-V/I-V/脉冲测试的测试方法。这些特点使得4200-SCS/CVU非常适合于：半导体技术研发、工艺研发和可靠性研究实验室；材料与器件研究实验室和机构；需要台式DC或脉冲测试设备的实验室；需要体积小而功能多、仪器多的非实验室与用户。

　　吉时利对4200-SCS用户提供持续软硬件升级服务，这意味着4200-CVU模块及其所有相关软件和可选硬件都能够兼容早期的4200-SCS系统。由此，用户完全无须因为设备或材料技术的更新而频繁购买新的参数化分析仪。通过低成本升级，4200-SCS系统能够满足技术进步带来的测试需求。