安捷伦宣布针对数字和混合信号消费器件测试推出93000超小型测试头
出处:sunwave 发布于:2007-12-19 11:19:44
93000超小型测试头灵活性高,进一步保护了制造商在自动测试设备中的投资。它体积小,可以有效用于供应链及一系列环境中,包括工程设计、晶片筛选和终测试。它满足了一系列SOC应用的测试需求,如LCDTV控制器、DVD、光驱、便携式媒体播放器中使用的嵌入式存储器、高速通信接口和优质音频/视频接口。
“在购买自动测试设备时,性能和产品使用寿命是消费电子器件制造商面临的重要因素。”安捷伦半导体测试业务副总裁Pascal Ronde说,“93000超小型测试头不同于其它低端测试仪,其它测试仪具有只能在本产品线内扩充和兼容的限制,没有明确的战略,解决供应链中效率低下的问题。93000超小型测试头利用93000平台结构,提供了一种低成本、高性能、可扩充的解决方案,并且能够兼容全系列93000解决方案。”
93000超小型测试头实现了93000平台优异的测试质量,并拥有老牌93000平台中相同的特性,如可扩充的结构、Pin Scale数字模块、模拟模块和RF模块、SmarTest软件、被测设备(DUT)电路板和模块。由于其先进的集成度,“零空间”的93000超小型测试头几乎不占用地板空间,多四个超小型测试头可以共享一个冷却单元。93000 CTH的主要特点包括:18个灵活的硬件插槽,其中16个插槽可以指配用于数字、模拟或RF卡;基于PCI Express的新传送链路,可以快速上传和测试仪数据及增强的DC测试功能,为超小型测试头提供了更高的吞吐性能。
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