德州仪器(TI)宣布推出一款可显著节约高速应用开发时间与成本的新型工具，能够使 TI的高分辨率高速 ADC 实现快速的数字数据采集。该款新型的数据采集卡与软件帮助用户轻松评估ADC 性能，并能够迅速为2.5G/3G 无线基站、通信设备以及测试测量设备等各种系统应用选择匹配的设备。

TSW1100 的数据采集速率高达 170 MSPS、分辨率高达 16 位、数据采集深度高达 100 万点。该器件可工作于单通道或双通道模式，因而可实现双通道 ADC 的同步采集。数据通过 USB 接口传输，利用个人电脑即可轻松控制。

过去，分析 ADC 性能常常需要采用成本高昂的逻辑分析仪，而且要遵循复杂的分析流程。TSW1100 ADC 避免了采用上述步骤的麻烦，因为通过其嵌入式逻辑分析仪模式即可提供准确的数据。用户还可利用配套的软件快速计算出 ADC 的性能参数，如信噪比 (SNR) 与无杂散动态范围 (SFDR) 等。此外，该软件使用户还能够保存供未来分析的原始数据集或性能图。

TSW1100 现已开始供货，目前可通过 TI 及其授权分销商进行订购。售价为 499 美元，包括数据采集卡、软件、电源以及 USB 线缆。