摘 要: 采用激光反射法使衔铁在高速线阵 CCD 上成像， 通过对 CCD 数字图像信号的处理， 得到电磁继电器衔铁的动作特性;并同步监测触点电压及线圈电流， 在得到相应时间参数及电特性参数的同时， 为在同一时间坐标下分析衔铁位移特性 触点状态以及线圈电流提供了测试手段。

　　0 引 言

　　电磁继电器以其独特的电气、物理特性而广泛应用于工业控制、国防军事及空间技术等领域电磁继电器动作过程中的动态吸反力特性以及触点状态是研究、分析继电器的关键所在。而无论是理论计算或是仿真分析所得的结论， 均需要通过测试手段来验证其正确性。

　　对于电磁继电器特性参数的测试， 国内外学者开展了大量的研究工作。如 Edward 等研制的RTS201 型继电器电参数自动测试系统， 可测量接触电阻 回跳时间及回跳次数等;文献［ 2］ 中所介绍的 ARL － 0111 直流继电器综合电参数测试装置， 可测试继电器的吸合电压、释放电压、线圈电阻、动作时间、 回跳时间等 然而， 类似的电磁继电器电参数或时间参数测试系统， 并无法得到继电器衔铁或触点的动作特性， 进而无法分析其受力情况。

　　从20 世纪90 年代后期开始， 一些研究机构同继电器生产厂家合作进行了继电器可动部件位移 速度 加速度等动态特性的测试研究。文献［ 3- 4］ 中通过在继电器运动部件上附加薄片或传感器， 实现了衔铁位移和加速度的测量。该类型方法将影响继电器衔铁原本的运动特性， 尤其对于小型电磁继电器而言， 很难满足测量要求文献［ 5］ 中采用激光映射法， 以激光束为光源， 将衔铁运动过程映射到 CCD 传感器上， 以此来获得衔铁的位移特性 该方法需要将激光透过被测对象， 一般仅适用于拍合式继电器。文献［ 6］ 中采用光纤位移传感器进行衔铁运动特性的测量， 该方法要求衔铁的运动方向与光纤传感器光路方向一致， 这极大限制了所能测试的继电器的类型。

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