SJT 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

出处：hooyean 发布于：2011-06-13 10:02:17

1.范围

　　本标准规定了半导体发光二极管（以下简称器件）的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。

　　本标准适用于可见光、白光半导体发光二极管。紫外发射二极管、结外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行。

　　2.规范性引用文件

　　下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本使用于本标题。

关键词：SJT 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

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