G652D是光缆中光纤的型号，代表的是非色散位移单模光纤。经过拉丝技术扭转且经过氘气处理的光纤是G652D光纤，此类型光纤是现在高速率、高容量的干线的选择。其与G652C的主要区别是PMD的高斯分布集中和对称程度。G652D光纤的特点外其显着的两个特点有一个是低PMD色散，一个是低水峰宽带。G652 C 与G652D单模光纤产品的技术参数只有一个不同，即PMD（偏振模色散）系数，"除此之外的其它参数都一样". G652 C单模光纤产品的PMD（偏振模色散）系数小于0.5PS/km 1/2, G652D单模光纤产品的PMD系数则小于0.2PS/km 1/2。　

    光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述为：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB.

　　而注2中描述：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和允许的弯曲损耗都应该与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。

　　大多光纤厂家都提供Φ60mm*100圈的判断标准，然而，在日常的测试工作中，若要采用方便快捷的实验方法，则倾向于按照注2中的建议去进行一些常规判断。因此，掌握Φ32mm*1圈与Φ60mm*100圈的数据差异就十分有必要。

一、Φ32mm*1宏弯测试更为简便

　　两种宏弯损耗测试方法示意图如图1所示。

　　用上述方法对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。

　　分别在1310nm、1550nm、1625nm三种波长下，对10盘光纤样品的宏弯平均值、标准偏差进行统计，将全部数据汇总，得到图2.

　　从整体数据汇总图可看出，Φ32mm*1宏弯测试方法所得数据的平均值和标准偏差都比Φ60mm*100的要小，且数据相对稳定，重复性好。当然所抽样品也不是完全都遵循此规律，10个样品中有3个样品在1625nm窗口下Φ32mm*1所得数据的平均值大于Φ60mm*100所测得的；还有1个样品在1550nm、1625nm窗口下所得数据的标准偏差大于Φ60mm*100的。

　　10个样品用两种测试方法所得数据的平均值和标准偏差相差不大，处于一个数据等级内。Φ32mm*1的判断标准应考虑的与60mm*100比较接近。

　　在测试过程中，Φ32mm*1宏弯测试方法易于操作，能减少测试误差，根据GB/T 9771.3-2008宏弯损耗的说明，Φ32mm*1宏弯测试方法可作为判断光纤宏弯性能的一种简便方法。

　　Φ60mm*100作为标准明确规定一种方法，其准确性的提高需依赖于测试装置的改良，如保证光纤以尽可能一致的直径、适宜的张力缠绕100圈。

二、截止波长与宏弯损耗存在相关性

　　为更好地摸索宏弯损耗与截止波长的关系，随机抽取760个样品进行实验，实验数据如图3、图4所示。

　　由图3可明显看出1625nm的数据较1550nm窗口下宏弯损耗分散，实际数据证实长波长对弯曲的敏感程度更甚。

　　由图4可看出1625nm宏弯损耗相对集中时对应的截止波长也相对集中分布在1210nm~1290nm,截止波长越小，宏弯损耗越大，且分布散乱无规律。

　　通过以上分析，可以看出截止波长对宏弯损耗有一定的影响，当截止波长分布在1210nm~1290nm范围内时，1550nm、1625nm窗口下宏弯损耗相对集中，数据稳定，这为光纤厂商优化工艺改善宏弯损耗提供了有利的数据依据。