集威电路型号很多，内部电路千变万化，故检测集成电路的好坏较为复杂。下面介绍一些常用的集成电路的好坏检测方法。
　  开路测量电阻法
　　开路测量电阻法是指在集成电路未与其他电路连接时，通过测量集成电路各个引脚与接地引脚之间的电阻来判别好坏的方法。
　　集成电路都有一个接地引脚(GND)，其他各个引脚与接地引脚之间都有一定的电阻，由于同型号的集成电路内部电路相同，因此同型号的正常集成电路的各个引脚与接地引脚之间的电阻均是相同的。根据这一点，可使用开路测电阻的方法来判别集成电路的好坏。

　　在检测时，万用表拨至RX100挡，红表笔固定接被测集成电路的接地引脚，黑表笔依次接其他各个引脚，如图16-4所示，测出并记下各个引脚与接地引脚之间的电阻，然后用同样的方法测出同型号的正常集成电路的各个引脚对地电阻，再将两个集成电路各引脚对地电阻一一对照，如果两者完全相同，则被测集成电路正常，如果有引脚电阳差距很大，则被测集成电路损坏。在测量各个引脚电红表阻时万用表选用同一挡位，如果因某个引脚电阻过大或过小难以观察而需要更换挡位时，则测量正常集成电路的该引脚电阻时也要换到该挡位。这是因为集成电路内部大部分是半导体元件，不同的欧姆挡提供的电流不同，对于同一个引脚，使用不同欧姆挡测HMU22KKE量时内部元件导通程度有所不同，故不同的欧姆挡测LM324N同一个引脚得到的阻值可能有一定的差距。

　

　　采用开路测量电阻法判别集成电路的好坏比较容易，并且对大多数集成电路都适用，其缺点是检测时需要找一个同型号的正常集成电路作为对照，解决这个问题的方法是平时多积累测量一些常用集成电路的开路电阻的数据，以便以后检测同型号集成电路时作为参考，另外也可查阅一些资料来获得这方面的数据。图16-5所示是一种常用的内部有4个运算放大器的集成电路LM324，表16-1中列出了其开路电阻数据，测量使用数字万用表的200kΩ挡，表中有两组数据，一组为红表笔接11脚(接地脚)黑表笔接其他各个引脚测得的数据，另一组为黑表笔接11脚、红表笔接其他各个引脚测得的数据，在检测LM324的好坏时，也应使用数字万用表的200k2挡，再将实测的各个引脚数据与表中数据进行对照来判别所测集成电路的好坏。