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IDDQ测试与栅氧短路

在当今的半导体领域，CMOS 工艺占据着至关重要的地位。而本文将聚焦于 CMOS 工艺中最关键、同时也是最容易被传统测试所漏检的物理缺陷 —— 栅氧短路（Gate - Oxide Shorts...

分类：电子测量 时间：2026-05-12 阅读：238 关键词：IDDQ

CMOS电路IDDQ测试电路设计

摘要：针对CMOS集成电路的故障检测，提出了一种简单的IDDQ静态电流测试方法，并对测试电路进行了设计。所设计的IDDQ电流测试电路对CMOS被测电路进行检测，通过观察测试电路...

分类：电子测量 时间：2011-09-28 阅读：3809 关键词：CMOS电路IDDQ测试电路设计CMOS电路IDDQ测试