从根本上讲，复杂系统级芯片的测试与验证问题与CMOS技术以前一直推测的物理极限存在冲突。在设计系统级芯片时，设计人员需要处理数百万门线路的设计，但即使解决了复杂的线路设计，设计好的电路仍然需要进行验证和测...
分类：电子测量 时间：2007-04-29 阅读：1248 关键词：系统级芯片开发需要解决易测性设计问题
随着芯片集成度和规模的不断提高，在设计的各个层次上所需运行的验证也相应增多，DRC和版图与电路图(LVS)的对比检查变得越来越重要，它对于消除错误、降低设计成本和减少设计失败的风险具有重要作用，本文介绍了基于...
分类：单片机与DSP 时间：2007-04-29 阅读：2223 关键词：基于Calibre 工具的系统级芯片物理验证
互连中的信号完整性损耗对于数千兆赫兹高度复杂的SoC来说是非常关键的问题，因此经常在设计和测试中采用一些特殊的方法来解决这样的问题。本文介绍如何利用片上机制拓展JTAG标准使其包含互连的信号完整性测试，从而...
分类：其它 时间：2007-04-29 阅读：1771 关键词：采用边界扫描法测试系统级芯片互连的信号完整性
