用定制测量表达式简化PSpice对坏情形的模拟
出处:liudewei 发布于:2007-04-06 14:37:52
但是,当2号波形跨过特定 y 值时,设计师必须测量1号波形的值,在这种情况下,预先定义的测量尺度就不适用了,这是因为 PSpice 不允许嵌入,这与很多编程语言不同。本设计实例介绍了如何创建一个能解决该问题的定制型 PSpice 测量表达式。正如表1所示,测量表达式本身是直截了当的。第 1 行可发现 1 号迹线跨过第 n 个正斜率的 y1 值时的 X 值 (x1)。第 2 行是由表底部的大括号表示的,搜寻 2 号迹线 (y2) 在 x1 的值。与此类似,表2表明设计师如何创建一个测量表达式,来找出 1 号迹线跨过第 n 个负斜率的 y1 值时的 y2 值,或当 1 号迹线跨过其整个 y 轴范围的给定百分比时的 y2 值。
图 1 描绘了一个模拟实例,其中的输入电压和输出电压分别代表比较器的输入和输出。当输入电压大于正阈值电压时,则输出电压为高;当输入电压小于负阈值电压时,则输出电压为低。利用定制的测量表达式,设计师在可供利用的探测数据之后,很容易发现所有情况下的上升阈值和下降阈值,以及比较器的滞后电压。如果存在阈值不符合设计规范的任何情况,设计师都能随后直接进入这种情况,并花时间做进一步分析。

模拟实例描述了某种输入电压监视器,它包含一个充当电源管理 IC 中的“电源良好”块的比较器。当输入电压升至 13V “使能阈值”以上时,输出电压变高,并使能其它电路块。当输入电压降至 10V“不使能阈值”以下时,输出电压变低,并不使能其它电路。“使能阈值”和“不使能阈值”之差——3 V——定义了滞后电压。电路的坏情形的模拟必须说明电路中的 NPN 和 PNP 晶体管、基极电阻器、多晶硅电阻器的特性变化。每种器件的特性可能会在工艺规范的低端或高端下降,因此产生 16 种组合。
工具条列出了这 16 种可能组合的其中几种。例如,LLLL 是指 NPN 和 PNP 晶体管以及基极电阻器和多晶硅电阻器都在各自低值下下降的情况。另外,模拟的性通过使用了标称值,即各元件的规格均落在各自标称特性的中心内。对于每种组合,PSpice 分别模拟了电路在低温、室温、高温的行为,产生了模块的输入和输出电压的 51 条数据迹线,总共显示了 102 条迹线。PSpice 汇编了数据之后,电路设计师必须提取每种情况的实际阈值电压,便于和电路的规格做比较。由于显示的迹线数量很大,因此利用显示器的光标来测量每个阈值会消耗设计师很多时间。如果利用定制的 PSpice 测量尺度,就能在很短时间内提取阈值电压,并以表格形式呈现数据。紧接在波形图下方的表格包含了所有 51 条迹线的模拟结果。1、2、3 列给出了标称特性的结果,而 4、5、6 列则给出了低温、室温、高温的结果,所有器件的规格都在各自的下限。

表格第 1 行显示了“使能电压阈值”的测量表达式和结果。当输出电压首次跨过正斜率上的 4.5 V(被模拟电路的 9 V电源总线电压的一半),模拟会记录输入电压值,把它作为“使能阈值”电压,并且第 2 行测量禁用阈值电压。第 3、4 行用另一种方法测量“使能阈值”电压和“不使能阈值”电压:当输出电压次和第二次通过满刻度值的 50% 时,PSpice 会测量输入电压值。第 5 行计算滞后电压。

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