通过利用外部栅极电路提高双向可控硅的正电压dV/dt性能

出处:电子工程网 发布于:2021-03-16 14:25:31

  从上个世纪70年代开始,双向可控硅(又称三端双向晶闸管)一直用于控制交流负载,几乎在所有电器上都能看到双向可控硅。当终端设备上的电压上升速率过快时,双向可控硅将会自动触发,从那时起,设计人员就必须面对双向可控硅的这个特性。当设计对电压快速瞬变有要求的电器时,必须考虑这个问题。

  半导体易受到dV/dt变化速率的影响

  功率半导体器件由多个半导体层组成。例如,双向可控硅是四层结构交流开关元件,每层是半个祼片,每层通过交替掺杂方法控制空穴浓度(P区)或自由电子浓度(N区),形成两个单向可控硅。因此,双向可控硅相当于两个反极性并联的单向可控硅(图1)。

  每个PN结都会产生寄生电容,当施加斜坡电压时,就会产生电容电流(ICAP)。电容电流可能会向IGBT或功率MOSFET等电压控制型半导体的栅极电容充电。如果电容电压持续升高,超过阈压(VGS(th)或VGE(th)),器件可能会导通。即使不足以触发器件,器件也可能进入饱和模式(如果是MOSFET)或线性模式(如果是IGBT),导致功率损耗过大和器件失效。为避免这个问题,栅极必须通过低阻抗以源极或发射极为参考点。

  图1:a)双向可控硅结构易受dV/dt上升率影响b)dV/dt上升率引起导通示例图

  如果dV/dt(以A1端为参考点)为正值,则电流ICAP经P1-N1结流至A1;如果dV/dt为负值,则电流ICAP经P2-N3结流至A2(如图1所示)。假如P1或P2层电压分别高于P1-N2或P2-N3结阈压(即0.6V),该电容电流就可能导致双向可控硅导通。

  在双向可控硅产品数据手册中,厂商给出相关器件在导通前能够承受的  的dV/dt上升速率。如果电压上升速率高于这个数值,双向可控硅可能就会导通,如图1b所示。只要施加的电流小于器件  输入电流,dV/dt引起的导通不会损坏双向可控硅。因为当双向可控硅导通时,电流会受到负载阻抗限制,所以大多数情况下不会损坏双向可控硅。

  改进双向可控硅的dV/dt特性

  为避免当双向可控硅输入端上电压变化速率过快而引起的导通问题,传统解决方案是给双向可控硅并联一个阻容缓冲电路,抑制市电的dV/dt变化速率。但是,这些电路需要一个大型电容,以耐受高达400V的峰压(连接220-240V市电)。

  第二种解决方案是在栅极和阴极之间增加阻抗,即增加一个电阻器(图1中的RG)。如图1所示,这个解决方案只适用于正电压dV/dt变化的情况,寄生电容电流在P1-N1结分流(见蓝色虚线ICAP),防止开关被触发。对于负电压dV/dt情况,电容电流(图1a中的红色虚线)流向P2-N3结。外部器件无法分流这部分电流,因而无法改进反向dV/dt抑制功能。

  用电容替代电阻(图1中的RG)也可以解决这个问题,虽然这个办法在SCR(可控硅整流管)中效果很好,但是不建议用于双向可控硅,因为双向可控硅导通时dI/dt速率很高,这个电容可能会在双向可控硅栅极上产生过流,导致器件损毁。

  为防范这种风险,可以给该电容串联一个电阻(图2a中的RG和CG),这样做的好处是使用一个低阻值的RG,同时避免了从控制电路分流过高的电流,因为只要充电,CG相当于开路。

  栅极阻容滤波器有益于提高应用抗干扰能力

  家电电器必须达到电磁兼容性标准的  要求。因为双向可控硅通过负载直接连接市电,这类电器对IEC61000-4-4标准中的电快速瞬变(EFT)实验所用瞬变事件特别敏感。

  IEC61000-4-4实验条件包括耦合到市电网络的5kHz或100kHz电压脉冲串。因为该实验是在整个被测电器上进行,所以微控制器也可能受到电磁干扰。我们在实验中只评测双向可控硅的抗扰度,所以将其栅极直接连至其参考电极,使双向可控硅不受其它干扰的影响(图2)。

    图2:IEC61000-4-4测试配置

  输入变阻器用于钳制电压,防止击穿导致双向可控硅导通。假如没有输入变阻器,只要施加1kV峰压,任何双向可控硅都会导通。我们使用一个白炽灯作为负载,以便于观察双向可控硅何时导通。例如,我们测试了几款意法半导体的T系列产品(T610T-8FP,T810T-8FP,T1210T-8FP,T1610T-8FP)。每款产品的栅电流都是10mA,都对EFT(电快速瞬变)噪声敏感。通过图2中的RG-CG-RG2电路,每款产品都能承受3kV5Khz脉冲或2kV100Khz脉冲。如果没有这个栅极电路,连1kV的脉冲都承受不住。RG2对应微控制器输出引脚的内部RDS(ON)电阻,无需增加外部电阻。

  与传统缓冲电路(图2中的RS和CS)相比,栅极电路所能承受的电压略高(3.6kV对3.3kV典型值)。栅极电路只用一个16V的小电容器就取得了400V大电容器的抗扰性能。栅极电路与缓冲电路配合,让只使用10mA双向可控硅的电器取得高于6kV的EFT抗扰性能。栅极电路能够让所有的双向可控硅受益,不过,意法半导体T系列产品本身的负电压dV/dt性能非常优异,同时再使用外部栅极电路提高正电压dV/dt性能。

  总之,用栅极滤波器代替高压缓冲器也可以降低电路板尺寸和成本,此外,还可以滤除从市电网络进入到控制电路的噪声。

关键词:通过利用外部栅极电路提高双向可控硅的正电压dV/dt性能可控硅

版权与免责声明

凡本网注明“出处:维库电子市场网”的所有作品,版权均属于维库电子市场网,转载请必须注明维库电子市场网,https://www.dzsc.com,违反者本网将追究相关法律责任。

本网转载并注明自其它出处的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品出处,并自负版权等法律责任。

如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。

神奇的开关—双向可控硅BT136
广告
OEM清单文件: OEM清单文件
*公司名:
*联系人:
*手机号码:
QQ:
有效期:

扫码下载APP,
一键连接广大的电子世界。

在线人工客服

买家服务:
卖家服务:
技术客服:

0571-85317607

网站技术支持

13606545031

客服在线时间周一至周五
9:00-17:30

关注官方微信号,
第一时间获取资讯。

建议反馈

联系人:

联系方式:

按住滑块,拖拽到最右边
>>
感谢您向阿库提出的宝贵意见,您的参与是维库提升服务的动力!意见一经采纳,将有感恩红包奉上哦!