在先进封装应用加速、集成密度提高、对电源和信号完整性验证需求增长的共同推动下，半导体测试朝着更高复杂度与并行度的方向发展。相应地，晶圆级和封装级测试除了基本的通...
分类：嵌入式系统/ARM技术 时间：2026-09-08 阅读：796 关键词：嵌入式模块
信号链由放大器、数据转换器、接口、时钟及定时器等多个核心组件构成，其核心目标是通过对实时信息的采集与处理，实现数据获取或系统控制。随着汽车电子、工业和服务器等领...
在当今的电子技术领域，信号链的设计与应用愈发重要。信号链由放大器、数据转换器、接口、时钟及定时器等多个核心部件组成，其主要目的是实现实时信息的采集与处理，以达成...
SiC 器件准静态 CV 测量新思路：恒流激励法提升测试稳定性并解析界面电荷
电容电压（CV）测量作为半导体材料与器件工艺表征的关键手段，在 MOS 器件分析领域应用广泛。通过 CV 测试数据，能够提取诸如氧化物可动电荷、氧化层电容、界面陷阱、掺杂分布、平带电压、掺杂浓度、少数载流子寿命...
SiC 器件准静态 C-V 测量的新路径：用施加电流法提升稳定性并分析界面电荷
在半导体材料和器件制造过程的分析中，电容 - 电压（C - V）测量是一种极为重要的手段，尤其在表征金属 - 氧化物 - 半导体（MOS）方面发挥着关键作用。从 C - V 数据中，我...
在现代科研领域，声 - 热 - 固多物理场耦合机理及热弹性效应等相关研究不断深入，声致热声信号测量及成像实验研究也愈发重要。某研究团队为了深入开展这方面的研究，使用功...
在电子设备日益普及的今天，电磁兼容性（EMC）问题愈发受到关注。EMC 测试设备的测量原理对于准确评估电子设备的电磁兼容性至关重要。下面我们将详细探讨相关内容。 抖...
深入解析 LED 驱动 PWM 调光频闪问题：测量方法与滤波策略
在当今的 LED 照明领域，涵盖室内灯、车灯以及显示屏背光等应用场景，PWM 调光技术凭借其通过高速开关 LED 来调节亮度的特性，得到了广泛的应用。然而，一旦 PWM 频率过低或者滤波不足，就会引发频闪（Flicker）现象...
在当今的 LED 照明领域，涵盖室内灯、车灯以及显示屏背光等多种应用场景，PWM 调光技术凭借高速开关 LED 的方式来调节亮度，得到了广泛的应用。然而，若 PWM 频率过低或者滤波不足，人眼或者摄像头就会感知到频闪（F...
分类：光电显示/LED照明 时间：2026-07-01 阅读：708 关键词：LED
借助 LTspice FFT 分析功能精准测量电容器有效纹波电流
电源设计方案的稳健性取决于产品的长久使用寿命，对于常规开关电源（SMPS），其可靠性往往与铝电解电容（Al - Ecap）的特性密切相关。铝电解电容采用液态电解质，易出现扩散与挥发现象，是整机首要寿命短板，也是决...
在电源设计与测试领域，确保电源的稳定性是至关重要的。为了实现这一目标，需要对电源的增益和相位裕量进行精确测量。通常情况下，电源若具备至少 45° 的相位裕量和至少 1...
时域反射仪（TDR）作为一种专业的测试设备，在电缆系统及其他馈线的检测中发挥着至关重要的作用。它能够精确地检测并定位相关问题，因此在各类场景中得到了广泛应用，尤其...
在电子工程和通信领域，对于电缆系统及其他馈线的测试和故障检测至关重要。时域反射仪（TDR）作为一种重要的测量工具，能够有效检测并精确定位相关问题，在众多场景中发挥...
在电子设备的运行中，电源的稳定性至关重要，而电源纹波作为影响电源质量的关键因素，一直是电子工程师们关注的焦点。下面我们将对电源纹波进行全面解析，并介绍精确测量和...
在电子测量与标定领域，传统的基于 VX1000 的测量与标定解决方案存在诸多问题。通常情况下，A2L 文件由 ASAP2 Toolset、ASAP2 Studio 等专用工具生成，并且必须与 ECU 软件...
在电路设计领域，阻抗测量扮演着至关重要的角色，它能够帮助工程师准确掌握交流信号下的复阻抗特性（Impedance: Z）。例如，在数 GHz 频段下，天线阻抗一旦发生偏移，就会导致通信质量显著下降，还会造成非预期的噪...
在半导体材料与工艺领域，薄膜应力是一个重要的研究课题。物体因外因（如受力、湿度、温度场变化等）变形时，内部各部分会产生相互作用的内力，单位面积上的内力即应力。其...
在高精度电子测量与芯片测试领域，开尔文连接（Kelvin Connection）无疑是一项至关重要且绕不开的核心技术。它也被称作四线制测量 / 四端检测，由威廉.汤姆森.开尔文勋爵于...
在高精度电子测量与芯片测试领域，开尔文连接（Kelvin Connection）是一项至关重要的核心技术，它也被称作四线制测量 / 四端检测。这项技术由威廉汤姆森开尔文勋爵于 1861 ...
在高精度电子测量与芯片测试这一专业领域中，开尔文连接（Kelvin Connection）无疑是一项至关重要的核心技术。它又被称作四线制测量或四端检测，由威廉?汤姆森?开尔文勋爵...
