HTOL
芯片的老化测试，其本质是借助模拟极端环境，在较短时间内重现芯片长期使用后性能退化的过程。通过这种方式，能够筛选出潜在缺陷，预测芯片的使用寿命，为芯片的可靠性提供...
新型功率器件如碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN）凭借其优异的性能，在各类电子设备中得到了广泛应用。然而，这些器件在长时间连续使用后，不可避免地会出现老化现象，进而导致...
