仿真测试（Simulation Testing）是一种通过模拟实际环境、系统或过程来进行测试的技术手段。它通过计算机模型、虚拟环境或模拟系统的方式，再现真实世界的情景，以验证设计、方案或系统的功能、性能和可靠性。仿真测...
电路的测试要求测量仪器能够应对非常高且非常低的电阻值。可能适合测量高电阻的方法不一定适合测量低电阻。高价值电阻和绝缘测试需要一种类型的设备，而低电阻和连续性测试值则需要另一种类型。 低价值阻力和连续...
绝缘电阻测试仪用于测量电气设备和电缆的绝缘电阻，以确保设备的安全性和可靠性。它主要用于检查电气设备的绝缘状况，防止电气设备因绝缘损坏引发安全事故。一、绝缘电阻测试仪的使用方法检查设备：在使用绝缘电阻测...
测试电力电子控制单元 由于在紧凑的设计中支持单相和三相电网充电的灵活性，因此在板载充电器（OBC）通常由图腾孔配置的功率因子校正（PFC）阶段组成，并共振（例如，CL...
电桥测试仪是一种用于测量电阻、电容、电感等电参数的仪器。它主要通过使用电桥原理来测量未知电阻或其他元件的值。电桥测试仪常见于实验室、生产线和维修工作中，用于精确的电参数测量。 原理： 电桥原理是通...
在设计用于准确监测和控制重要电气参数（包括电流、电压和功率）的系统中，模数转换器 (ADC) 使用同步采样来监测和控制电压和电流。速度和精度是其中一些重要的参数，它们...
电气绝缘电阻的测试是评估电气设备绝缘性能的重要手段，通常用于检测电力设备或电缆、导线的绝缘层是否存在破损或老化等问题。测试绝缘电阻可以确保电气设备安全，防止漏电、短路等事故。 测试电气绝缘电阻的步骤...
传统的遥感方法 远程感测是一种行之有效的方法，通过消除连接电缆中压降的影响来精确调节负载点的直流功率。这在测试和测量应用中尤其重要，在这些应用中，电源电压在一...
什么是TDD？ 测试驱动开发（TDD）是编写软件的迭代过程，其中单元测试是在实现之前开发的。这是一个紧密的反馈循环，由以下步骤组成： 编写一个单元测试，看着它失败。 编写足够的代码来通过测试。 改进...
分类：嵌入式系统/ARM技术 时间：2024-12-31 阅读：609 关键词：TDD
测试光耦合器（光隔离器）是否正常工作，可以通过多种方法来确认其性能和功能，尤其是在查找不良光耦合器时。光耦合器一般用于信号隔离、抗干扰以及保护电路的目的，因此测试时需要关注其信号传输、隔离性和响应速度...
接地电阻测试仪的使用及接地电阻的测量方法 接地电阻测试仪是一种用于测量电力、通信、广播等设施接地系统电阻值的仪器，主要用于确保接地系统的安全性和可靠性。接地电阻过大或不合格可能会导致电气设备无法正常...
人体模型 (HBM) 器件级测试是 ESD 测试最常用的模型。它用于表征电子元件对 ESD 损坏的敏感性。该测试模拟人体对电子元件的放电，如果人体积累了残余电荷（例如，穿着袜子拖着脚走过地毯）并触摸电子设备，就会发生...
交通电气化正在改变车辆的设计、测试和制造方式。控制器硬件在环 (C-HIL)，也称为信号 HIL，已成为测试电力电子控制固件的替代方法，它易于使用，通过自动化实现广泛的测试...
谐波测试是对电力系统或电子设备中谐波分量的检测与分析。谐波是指信号中存在的频率成分，它是基波频率的整数倍，通常会对电力质量、设备性能及系统稳定性产生影响。因此，谐波的测试与分析在电力系统和电子设备的设...
什么是双向晶闸管？ TRIAC 是一种双向三电极交流开关，允许电子在任一方向流动。它相当于以反向并联方式连接的两个 SCR，其栅极相互连接。 TRIAC 由类似于 SCR 的栅...
STS8200 用于动态测试三个 p-GaN HEMT 器件。这些标有 A/B/C 的 650 V 额定器件来自不同制造商，典型室温导通电阻 (RDSON) 额定值分别为 240 mΩ、130 mΩ 和 40 mΩ。如图 1 所示的测试电路使用可调电阻负载来实现...
TI - 射频 FDA 如何使用射频采样 ADC 来增强测试系统
为了在无线通信系统中实现更高的数据速率以及在雷达中使用更窄的脉冲来解析近距离目标，对测试和测量仪器的性能和带宽提出了更高的要求。高带宽示波器和射频数字转换器等射...
IEC 61000-4-5是国际电工委员会（IEC）制定的一个标准，主要涉及电磁兼容性（EMC）测试，特别是针对设备对浪涌（过电压瞬态）的抗扰性。以下是对该标准的简要介绍： 标准目的 IEC 61000-4-5标准旨在定义测试方...
分类：电子测量 时间：2024-10-30 阅读：575 关键词：IEC 61000-4-5
电压源 1 将存储电容器 2 充电至约 100 V。浪涌电流脉冲形成的开始由同步电路 13 确定，该同步电路 13 发送命令以打开第一和第二开关 10 和 11，向发生器 14 发送控制命令以生成被测半导体器件 5 的控制信号和参考信...
