在射频芯片从设计到交付的整个流程中，探针的精准测试不仅是至关重要的核心环节，同时也是极易出现偏差的难点所在。测试过程中各种寄生效应如同顽固的 “敌人”，始终干扰...
SiC 器件准静态 CV 测量新思路：恒流激励法提升测试稳定性并解析界面电荷
电容电压（CV）测量作为半导体材料与器件工艺表征的关键手段，在 MOS 器件分析领域应用广泛。通过 CV 测试数据，能够提取诸如氧化物可动电荷、氧化层电容、界面陷阱、掺杂分布、平带电压、掺杂浓度、少数载流子寿命...
在半导体芯片测试流程中，量产 ATE 筛选测试和 CHAR 特性测试常常被人们混淆，然而，二者在核心目的、测试逻辑和执行标准上存在显著差异。日常量产 ATE 测试主要进行规格内...
一次通过EMI合规性测试——第5部分：关于精密模拟、屏蔽和热管理的进阶考量
电磁干扰(EMI)合规性常被视为最后的障碍而非设计目标，往往在原理图完成、PCB布局结束甚至原型板制成后才予以考虑。本系列文章的核心观点是：合规性不应是意外结果；如果从...
电力电子技术以功率器件为基石，通过对电能进行高效变换与精确控制，实现电压、电流、频率等电参量在不同形式之间的转换。典型的变换形式包括 AC - DC（整流）、DC - DC（...
从 Wi-Fi 4 开始，Wi-Fi 技术便不断演进，每一代更新都将提升峰值速率作为重要目标。通过扩展信道带宽、采用更高的调制方式以及增加空间流数量，Wi-Fi 技术取得了显著的进...
一次通过 EMI 合规性测试 —— 第 1 部分：相关物理知识
电磁兼容性（EMC）合规问题已然成为一大棘手的困扰。电磁干扰（EMI）不仅可能影响产品自身的性能，还可能对周围的电子设备造成干扰，从而引发一系列的问题。因此，如何确保产品能够一次性通过 EMI 合规性测试，成为...
在现代科技飞速发展的今天，高可靠性电源的研发成为众多领域关注的焦点。高等级的行业能效认证对产品的能量转换效率提出了极为苛刻的技术要求。要实现从 85% 到 90% 以上的...
测试工程师必看！如何在 10 分钟内快速排查误码仪 BER 测试故障
在当今的高速数字通信与计算互连领域，400G/800G/1.6T 以太网等标准的广泛应用，使得单通道传输速率大幅提升，从 28GBaud 跃升至 56GBaud 甚至达到 112GBaud。在如此高的传...
在硬件工程领域，Buck 电源电路的测试是确保其性能和稳定性的关键环节。那么芯片厂一般建议硬件工程师对 Buck 电源电路做哪些测试呢？其实问题的答案早就写在芯片原厂给的...
印刷电路板（PCB）在各类电子设备中应用广泛，无论是常见的手机、电脑，还是复杂的工业机器，都离不开电路板的支持。然而，若 PCB 或者 PCBA 存在缺陷或制造问题，极有可能导致最终产品故障，给用户带来不便，制造商...
在电子电路领域，磁珠、电感等元件以及 LCR 测试仪都有着至关重要的作用。下面我们将深入探讨它们的物理结构、高频等效模型、工作原理等方面的知识。 磁珠的物理结构与特性 磁珠通常由铁氧体（铁 / 镍 / 锌氧...
在电子设备日益普及的今天，电磁兼容性（EMC）问题愈发受到关注。EMC 测试设备的测量原理对于准确评估电子设备的电磁兼容性至关重要。下面我们将详细探讨相关内容。 抖...
IGBT 与 SiC MOSFET 双脉冲测试设备性能大不同
双脉冲测试作为功率半导体动态特性表征的 “黄金标准”，在半导体器件的测试领域有着举足轻重的地位。它能够精准测量开关损耗、dv/dt、di/dt、电压过冲以及反向恢复参数等关键指标，而这些测试结果对于器件选型、驱...
分类：电子测量 时间：2026-07-27 阅读：249 关键词：IGBT SiC MOSFET
详解 IGBT 与 SiC MOSFET 两类器件双脉冲测试的设备性能差异
双脉冲测试在功率半导体动态特性表征领域堪称 “黄金标准”，它能够精准测量开关损耗、dv/dt、di/dt、电压过冲及反向恢复参数等重要指标。这些测试结果对于器件选型、驱动...
分类：电子测量 时间：2026-07-24 阅读：351 关键词： IGBTSiC MOSFET
在硬件测试领域，电源纹波噪声测试看似简单，却常常让工程师们头疼不已。很多工程师都有过这样的困惑，同一块板子、同一个电源，不同人使用不同的示波器进行测试，得到的纹...
信号源在射频测试领域是极为常用且关键的设备。它具备自行调节信号的频率、功率以及调制样式的功能，广泛应用于芯片测试、整机测试以及电磁兼容（EMC）测试等，几乎所有射...
时间：2026-07-16 阅读：378 关键词：矢量信号源
在电子行业中，芯片的测试至关重要，而 ATE（Automatic Test Equipment）测试程序在其中扮演着关键角色。本文将以 Magnum EPIC 为例，深入探讨在编写 ATE 测试程序之前，如何理解一颗芯片是怎样被 ATE 测试的。 1...
在电力电子系统领域，功率半导体器件的可靠性是至关重要的考量因素。下面我们将详细探讨功率半导体器件可靠性测试的相关内容。 为何需要开展可靠性测试？ 可靠性指的是系统或组件在规定的环境条件下与特定的时...
