图1 图示了一个数字可编程的精密电阻，该电阻可在定制设计的ATE（自动测试设备）中用作微处理器驱动的电源负载。一个8位电流输出DAC、IC1 ，DAC08，驱动电流-电压转换器IC2一 ，进而驱动功率MOSFET Q的栅极1 .被测器...
R&S - 嵌入式世界2023，罗德与施瓦茨展示先进嵌入式系统测试解决方案
无论是在消费电子、电信、工业、医疗、汽车还是航空航天领域，嵌入式系统都是当今电子设备的核心。无瑕疵的操作至关重要，工程师在设计越来越紧凑的嵌入式系统时面临着复杂...
分类：嵌入式系统/ARM技术 时间：2023-03-25 阅读：197 关键词：嵌入式系统测试
在用于汽车 SoC 的纳米技术中，硅上的大多数缺陷都是由于时序问题造成的。因此，汽车设计中的全速覆盖要求非常严格。为了满足这些要求，工程师们付出了很多努力来获得更高的实速覆盖率。主要挑战是以尽可能低的成本...
随着行业转向采用MIPI 联盟的 M-PHY 标准，设计人员正面临一些与示波器测量相关的重大挑战，更具体地说，是探测。这些挑战包括严格的要求，例如总线端接和输入回波损耗，以及需要最大限度地减少被测设备 (DUT) 上的...
分类：电子测量 时间：2023-03-14 阅读：111 关键词：MIPI M-PHY
碳化硅(SiC) 器件的测试通常涉及不同的电路板和设置，用于开关损耗测量与全功率测试。在这些测量中的每一个中，都必须仔细考虑连接栅极驱动器、PWM 控制器、最小化功率和栅极环路电感以及创建不会严重影响测量本身的...
变异测试评估测试用例的质量。它重新执行已经通过的测试用例，但在更改的测试对象上，并揭示测试用例是否检测到测试对象中的更改。安全关键系统的开发标准（例如 IEC 61508）建议进行突变测试。在实践中，测试执行和...
分类：电子测量 时间：2023-03-01 阅读：135
几年前，我需要一个快速、低频但失真极低的源来测试板载微控制器 ADC，看它是否具有数据表中所说的有效位数 (ENOB) 和线性度。 我知道 Linear Technology [1] 的失真度...
为了提供下一代卫星应用，航天器越来越多地使用相控阵来组合多个单独的天线元件，以提高整体性能、增加增益、消除干扰并控制阵列，使其在特定方向上最灵敏。这允许运营商更...
什么是模型在环测试？ 在 MIL 级别上测试嵌入式系统意味着在建模框架中模拟（解释）模型及其环境，而无需任何物理硬件组件。这允许在开发周期的早期阶段进行测试。 ...
如果您的电路设计要求容忍某些故障并报告它们的发生，您将需要在测试和启动过程中测试设计的故障检测和保护功能。为了简化此测试，请考虑在原型印刷电路板中构建故障注入装...
CAN隔离收发器的基本性能是衡量一款收发器是否优秀的标准。本文将重点介绍CAN隔离收发器的性能测试项目及测试方法，能让您快速掌握CAN隔离收发器的基本性能，有助于减少开...
时间：2023-01-04 阅读：921 关键词：CAN
何为波纹 由于直流稳定电源一般是由交流电源经整流稳压等环节而形成的，这就不可避免地在直流稳定量中多少带有一些交流成份，这种叠加在直流稳定量上的交流分量就称之为...
所谓EMC就是：设备或系统在其电磁环境中能正常工作，且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。EMC测试包括两大方面内容：对其向外界发送的电磁骚扰强度进行测试，以便确认是否符合有关标准规定的限制值...
电子工程师和技术人员习惯将噪声视为负面因素，因而在元器件选择、电路设计和电路板布局过程中会进行优化以实现低噪声。事实上，随机或伪随机噪声有时候很有用。本文将进一...
伴随着国内运营商的重组，CDMA 1X技术重新受到国内业界的关注，本文主要介绍了CDMA 1X基站射频性能对CDMA 1X网络质量的影响以及CDMA 1X基站射频测试中的关键问题，为CDMA 1X基站的研发和测试提供一些指导。 对于C...
MOSFET(金属—氧化物半导体场效应晶体管)是 一种利用电场效应来控制其电流大小的常见半导体器件，可 以 广 泛 应 用 在 模 拟 电 路 和 数 字 电 路 当 中 。 MOSFET可以由...
测试中常常会遇到这样的情况：系统中的开关非常完美，没有信号损失或泄漏；所有的信号以点到点的方式进行传输，没有信号衰减。但是，系统的功能却不正常。这是为什么呢？本文将剖析在测试系统中配置开关时常见的一些...
1200 V SiC MOSFET 的体二极管可靠性研究（SiC MOSFET 的体二极管测试）
在 PCT 期间，当 DUT 开启时，由于电流从漏极流向源极，DUT 温度会升高（图 1a）。当 DUT 关闭时，通过从源极到漏极的感测电流测量体二极管压降。通过应用图 1b 中所示的 V...
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